[发明专利]一种磁盘寿命预测方法及相关装置

说明书

本发明公开了一种磁盘寿命预测方法，利用第一寿命区间对应的第一回归模型先对待预测磁盘的性能数据进行较粗略的预测，得到第一寿命值，根据第一寿命值确定该性能数据适用的精确度更高的第二回归模型，从而利用第二回归模型对性能数据进行预测就可以得到更精确的磁盘寿命的预测结果。本申请还提供了一种磁盘寿命预测系统、装置及计算机可读存储介质，同样可以实现上述技术效果。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，更具体地说，涉及一种磁盘寿命预测方法、系统、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

磁盘寿命预测一直以来是存储运维领域十分关注的问题，通过磁盘属性的变化来对磁盘寿命进行预测时目前解决该问题的常规做法，但利用磁盘属性的变化往往只能得到磁盘是否已经故障，要想知道磁盘还有多少天故障时，只能得到粗略的范围，准确性十分低。

因此，如何精确的预测磁盘寿命，是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种磁盘寿命预测方法、系统、装置及计算机可读存储介质，以解决如何精确的预测磁盘寿命的问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种磁盘寿命预测方法，包括：

确定待预测磁盘的性能数据；

利用第一寿命区间对应的第一回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到第一寿命值；

确定所述第一寿命值对应的第二寿命区间，利用所述第二寿命区间对应的第二回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到预测结果；其中，所述第一寿命区间的范围包括所述第二寿命区间，所述第一回归模型为利用所述第一寿命区间的历史性能数据进行训练得到的模型，所述第二回归模型为所述第二寿命区间的历史性能数据进行训练得到的模型。

其中，所述性能数据包括SMART数据。

其中，所述利用所述第二寿命区间对应的第二回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到预测结果，包括：

利用所述第二寿命区间对应的第二回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到第二寿命值；

确定预先训练得到的误差数据，利用所述误差数据与所述第二寿命值确定所述预测结果。

其中，所述第一寿命区间的范围包括至少两个子区间，则所述确定第一寿命值对应的第二寿命区间，包括：

利用所述第一寿命值在所述两个子区间中确定包括所述第一寿命值的子区间，作为第二寿命区间。

其中，所述利用所述第二寿命区间对应的第二回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到预测结果之后，还包括：

将所述预测结果作为第二寿命值，确定与所述第二寿命值对应的第三寿命区间，利用所述第三寿命区间对应的第三回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到新的预测结果；其中所述第一寿命区间的范围包括所述第三寿命区间，所述第三寿命区间的范围小于所述第二寿命区间的范围。

本申请还提供了一种磁盘寿命预测系统，包括：

确定模块，用于确定待预测磁盘的性能数据；

第一预测模块，用于利用第一寿命区间对应的第一回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到第一寿命值；

第二预测模块，用于确定所述第一寿命值对应的第二寿命区间，利用所述第二寿命区间对应的第二回归模型对所述待预测磁盘的性能数据进行预测，得到预测结果；其中，所述第一寿命区间的范围包括所述第二寿命区间，所述第一回归模型为利用所述第一寿命区间的历史性能数据进行训练得到的模型，所述第二回归模型为所述第二寿命区间的历史性能数据进行训练得到的模型。