[发明专利]对中校准方法和装置

权利要求书

1.一种对中校准方法，其特征在于，所述方法应用于广角光散射设备，所述广角光散射设备包括样品仓、旋转臂及图像采集部件，所述样品仓处于靠近所述旋转臂的旋转中心的一端，所述图像采集部件安装在所述旋转臂上远离所述旋转中心的一端，所述样品仓中设置有参考物，所述参考物的中心与所述样品仓的中心重合；

所述方法包括：

依次调节所述旋转臂至多个旋转角度α，并在每个旋转角度α下控制所述图像采集部件采集所述参考物的图像；

根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定标准中心成像位置，其中，所述标准中心成像位置为所述旋转中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置；

根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据在所述多个旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定标准中心成像位置，包括：

根据在任一旋转角度α下采集到的所述参考物的图像，确定在所述旋转角度α下的参考物中心成像位置，其中，所述参考物中心成像位置为所述参考物的中心在所述图像采集部件采集到的图像中的成像位置；

根据每个旋转角度α下的所述参考物中心成像位置，得到所述标准中心成像位置。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置，包括：

依次调节所述旋转臂至多个旋转角度β；

在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与每个旋转角度β下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述标准中心成像位置，调节所述样品仓的位置，包括：

调节所述旋转臂至旋转角度θ；

在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与旋转角度θ下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合；

调节所述旋转臂至与旋转角度θ垂直的旋转角度φ；

在平行于所述旋转臂的旋转平面，且与旋转角度φ下的所述旋转臂垂直的方向上，调节所述样品仓的位置，直至所述参考物中心成像位置与所述标准中心成像位置重合。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述广角光散射设备中还包括激光器，所述样品仓的中心放置被测样品，所述激光器出射的激光照射到所述样品仓；

所述方法还包括：

在预设旋转角度范围内调节所述旋转臂，并在所述预设旋转 角度范围内控制所述图像采集部件采集所述被测样品的多个图像，其中，所述预设旋转角度范围内包括初始0度；

根据在所述预设旋转角度范围内采集到的所述被测样品的多个图像，确定所述标准中心成像位置对应的多个光信号强度值；

确定所述多个光信号强度值中的最大光信号强度值对应的旋转角度；

根据所述最大光信号强度值对应的旋转角度，确定所述旋转臂对应的标准零旋转角度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述最大光信号强度值对应的旋转角度，确定所述旋转臂对应的标准零旋转角度，包括下述之一：

若所述最大光信号强度值对应的旋转角度与所述初始0度之间的角度差小于预设阈值，则将所述初始0度确定为所述标准零旋转角度；

若所述最大光信号强度值对应的旋转角度与所述初始0度之间的角度差大于或等于所述预设阈值，则将所述最大光信号强度值对应的旋转角度确定为所述标准零旋转角度。