[发明专利]SSD后端性能分析方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种SSD后端性能分析方法，所述方法包括：

获取SSD后端性能分析请求；

根据所述SSD后端性能分析请求计算需下发描述符的总数；所述描述符用于描述存储信息的数据结构；

判断所述需下发描述符的总数是否大于回收描述符的总数；

若所述需下发描述符的总数不大于回收描述符的总数，则记录描述符执行时间；

根据所述描述符执行的时间和描述符操作的数据大小计算数据传输速率以实现对SSD后端性能进行分析。

2.根据权利要求1所述的SSD后端性能分析方法，其特征在于，在判断所述需下发描述符的总数是否大于回收描述符的总数的步骤之后还包括：

若所述需下发描述符的总数大于回收描述符的总数，则按die下发描述符；

判断NFC中的cdma channel fifo是否已满；所述NFC为Nand Flash控制器，所述cdmachannel为码分多址通道；

若所述NFC中的cdma channel fifo已满，则根据die的编号获取对应的描述符，并检查所述对应的描述符的状态；

判断所述描述符是否执行成功；

若所述描述符执行成功，则回收描述符的计数加1；

若所述描述符未执行成功，则重置NFC中的cdma channel，直至所述描述符执行成功。

3.根据权利要求2所述的SSD后端性能分析方法，其特征在于，在判断NFC中的cdmachannel fifo是否已满的步骤还包括：

若所述NFC中的cdma channel fifo未满，则继续按die下发描述符直至所述NFC中的cdma channel fifo已满。

4.根据权利要求1-3任一项所述的SSD后端性能分析方法，其特征在于，所述根据所述SSD后端性能分析请求计算需下发描述符的总数的步骤包括：

获取下发描述符所使用的NAND的die的个数、NAND的block的个数以及NAND的page的个数；

根据所述NAND的die的个数、NAND的block的个数以及NAND的page的个数计算需下发描述符的总数。

5.一种SSD后端性能分析装置，其特征在于，所述SSD后端性能分析装置包括：

获取模块，所述获取模块用于获取SSD后端性能分析请求；

第一计算模块，所述第一计算模块用于根据所述SSD后端性能分析请求计算需下发描述符的总数；所述描述符用于描述存储信息的数据结构；

第一判断模块，所述第一判断模块用于判断所述需下发描述符的总数是否大于回收描述符的总数；

记录时间模块，所述记录时间模块用于若所述需下发描述符的总数不大于回收描述符的总数，则记录描述符执行时间；

第二计算模块，所述第二计算模块用于根据所述描述符执行的时间和描述符操作的数据大小计算数据传输速率以实现对SSD后端性能进行分析。

6.根据权利要求5所述的SSD后端性能分析装置，其特征在于，所述SSD后端性能分析装置还包括：

下发模块，所述下发模块用于若所述需下发描述符的总数大于回收描述符的总数，则按die下发描述符；

第二判断模块，所述第二判断模块用于判断NFC中的cdma channel fifo是否已满；若所述NFC中的cdma channel fifo已满，则根据die的编号获取对应的描述符，并检查所述对应的描述符的状态；所述NFC为Nand Flash控制器，所述cdma channel为码分多址通道；

第三判断模块，所述第三判断模块用于判断所述描述符是否执行成功；若所述描述符执行成功，则回收描述符的计数加1；若所述描述符未执行成功，则重置NFC中的cdmachannel，直至所述描述符执行成功。

7.根据权利要求6所述的SSD后端性能分析装置，其特征在于，所述第二判断模块还用于：

若所述NFC中的cdma channel fifo未满，则继续按die下发描述符直至所述NFC中的cdma channel fifo已满。