[发明专利]通用性硬盘测试接口在审

专利信息
申请号: 201811468159.0 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109408317A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 赵铭 申请(专利权)人: 苏州欧康诺电子科技股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 背板 温度传感器 硬盘 边缘模块 串行端口 固定螺栓 硬盘测试 影响测试结果 通讯处理器 被测物体 测试过程 电源接口 构件连接 红外能量 连接测试 连接面板 设备环境 通用性强 整个结构 制造成本 控制器 安装孔 不均匀 电热堆 灵活的 批量性 垫片 兼容 测试 吸收
【说明书】:

发明公开了通用性硬盘测试接口,包括安装孔、面板、固定螺栓、垫片、温度传感器、SFF8639接口、背板、电源接口、I2C接口、SATA接口、串行端口、通讯处理器、控制器、边缘模块,其特征在于面板置于整个结构的最上方,温度传感器下方有一个SFF8639接口,背板的左上方有一个I2C接口,背板的右侧有一个边缘模块。本发明通过固定螺栓来连接面板与背板,温度传感器利用电热堆吸收被测物体发出的红外能量,避免硬盘在批量性测试过程中设备环境温度不均匀而影响测试结果,利用SATA接口来连接测试硬盘,通过I2C接口与串行端口来满足同时兼容SATA 3Gbps、SATA 6Gbps与SAS接口硬盘的测试时的需求,通用性强,本发明还具有制造成本低、牢固耐用,且各构件连接灵活的特点。

技术领域

本发明涉及一种SATA接口加工领域,具体为通用性硬盘测试接口。

背景技术

SATA是Serial ATA的缩写,即串行ATA。它是一种电脑总线,主要功能是用作主板和大量存储设备(如硬盘及光盘驱动器)之间的数据传输之用。这是一种完全不同于串行PATA的新型硬盘接口类型,由于采用串行方式传输数据而得名。SATA总线使用嵌入式时钟信号,具备了更强的纠错能力,与以往相比其最大的区别在于能对传输指令(不仅仅是数据)进行检查,如果发现错误会自动矫正,这在很大程度上提高了数据传输的可靠性。串行接口还具有结构简单、支持热插拔的优点。在数据传输上这一方面,SATA的速度比以往更加快捷,并支持热插拔,使电脑运作时可以插上或拔除硬件。另一方面,SATA总线使用了嵌入式时钟频率信号,具备了比以往更强的纠错能力,能对传输指令(不仅是数据)进行检查,如果发现错误会自动矫正,提高了数据传输的可靠性。目前最广泛应用的是SATA 3Gbps(SATA2.0)渐被数据传输更快可靠性的更高的SATA 6Gbps取代。在SATA接口的生产中,目前还没有一种通用性硬盘测试接口。

发明内容

本发明的正是针对以上问题,提供一种通用性硬盘测试接口。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的:

通用性硬盘测试接口,包括安装孔、面板、固定螺栓、垫片、温度传感器、SFF8639接口、背板、电源接口、I2C接口、SATA接口、串行端口、通讯处理器、控制器、边缘模块,其特征在于面板置于整个结构的最上方,面板的面部下方设置有安装孔,面板的各个角分别设置一个固定螺栓,面板的中间设置一个温度传感器,温度传感器下方有一个SFF8639接口,面板的面部左侧设置有垫片,面板底部设置一个背板,背板的左上方有一个I2C接口,I2C接口下部有一个电源接口,I2C接口的右侧设置一个SATA接口,SATA接口右端设置一个串行端口,串行端口下方有一个控制器,串行端口右端设置一个通讯处理器,背板的右侧有一个边缘模块。安装孔的个数为两个,面板与垫片采用固定连接,温度传感器通过吸收被测产品的红外能量来控制测试设备的温度,背板与面板通过固定螺栓连接在一起,I2C接口通过双向传输数据来提高通用性及兼容性。

本发明通过固定螺栓来连接面板与背板,提高结构的牢固性,安装孔用于安装固定设备,垫片辅以连接传感信息,SFF8639接口用于连接设备与硬盘,达到同时兼容SATA3Gbps、SATA 6Gbps与SAS接口硬盘的测试的效果,温度传感器利用电热堆吸收被测物体发出的红外能量,并使用相应的电热堆电压变化来确定物体温度,温度范围在-40℃到+125℃,温度传感器所采集的温度通过通讯处理器传输讯息,进而与期望值比较,再由控制器调节温度,使得测试设备的环境温度更接近与设定期望值,避免硬盘在批量性测试过程中设备环境温度不均匀而影响测试结果,边缘模块辅以连接固定设备,电源接口用于连接电源,利用SATA接口来连接测试硬盘,且接口小巧,支持热插拔,传输速度快,执行效率高,通过I2C接口与串行端口来满足同时兼容SATA 3Gbps、SATA 6Gbps与SAS接口硬盘的测试时的需求,通用性强,避免了测试设备在测试过程中频繁的PID调节造成的电能浪费,为企业节省大量降低经营成本,本发明还具有制造成本低、结构简单、操作方便、牢固耐用,且各构件连接灵活的特点。

附图说明

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