[发明专利]一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备在审
| 申请号： | 201811469945.2 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN111243981A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 马伟;石秀青 | 申请（专利权）人： | 苏州天目光学科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 不同 带宽 cof 芯片 抽检 设备 | ||
1.一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备，包括机架(1)以及固定设置在机架(1)上的放料轮(2)、可调节宽度从动轮(3)、控制盒(5)以及抽检工位(6)，其特征在于，所述放料轮(2)为四个，所述可调节宽度从动轮(3)为六个。
2.根据权利要求1所述的一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备，其特征在于，所述可调节宽度从动轮(3)包括安装座(7)、固定轴(8)、第一从动轮(9)和第二从动轮(10)，所述固定轴(8)的一端固定设置在安装座(7)的侧壁上，所述第一从动轮(9)固定设置在固定轴(8)的轴壁上，所述第二从动轮(10)活动套接在固定轴(8)的轴壁上，所述第二从动轮(10)的两侧均设有第一螺栓(11)，所述固定轴(8)的轴壁与两个所述第一螺栓(11)的位置对应处开设有多个均匀分布且呈直线分布的第一螺纹孔，所述第二从动轮(10)通过第一螺栓(11)与固定轴(8)的轴壁紧固连接。
3.根据权利要求1所述的一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备，其特征在于，所述抽检工位(6)包括抽检设备(13)和抽检平台(12)，所述抽检平台(12)的上端两侧均对称固定设有固定板(14)和移动板(15)，所述固定板(14)靠近移动板(15)的一侧固定设有多个均匀分布的支撑导轮(16)，所述抽检平台(12)的上端位于移动板(15)的一侧固定设有固定座(17)，所述固定座(17)的侧壁转动连接有丝杆(18)，所述丝杆(18)的一端与固定板(14)的侧壁转动连接，所述丝杆(18)的另一端固定设有转轮(20)，所述移动板(15)的侧壁通过第二螺纹孔与丝杆(18)的杆壁螺纹连接，所述抽检平台(12)的上端位于固定板(14)和移动板(15)之间固定设有检测背光源(19)。
4.根据权利要求2所述的一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备，其特征在于，所述安装座(7)通过第二螺栓(4)与机架(1)的侧壁固定连接。
5.根据权利要求3所述的一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备，其特征在于，所述丝杆(18)的杆壁两侧均通过滚动轴承分别与固定板(14)的侧壁和固定座(17)的侧壁转动连接。
6.根据权利要求3所述的一种适用于不同带宽的COF芯片卷带的抽检设备，其特征在于，所述抽检设备(13)包括显微镜和放大镜。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
