[发明专利]一种高精度扫描探雷装置及扫描检测方法

权利要求书

1.高精度扫描探雷装置的扫描检测方法，其中，高精度扫描探雷装置包括中子源项系统、探测系统、能谱分析系统和屏蔽防护系统，所述的中子源项系统包括中子发生器(1)和中子发生器供电控制设备；所述的探测系统包括伽马射线探测器(2)和探测器支架(3)；所述的能谱分析系统包括多道分析器和工业控制计算机；所述的屏蔽防护系统为中子防护层(4)，其特征在于：所述的中子发生器(1)位于整体装置的中轴处，与所述的中子发生器供电控制设备连接，所述的中子防护层(4)包裹于中子发生器(1)周围，所述的探测器支架(3)位于中子防护层(4)上方，所述的探测器支架(3)有三个力臂，所述的伽马射线探测器(2)有三个，分别置于所述的探测器支架(3)上，所述的伽马射线探测器(2)与所述的多道分析器和工业控制计算机依次连接；高精度扫描探雷装置的扫描检测方法，包括以下几个步骤：

步骤一：在测量环境中，确定一条直线扫描路径，在该路径上设置多个扫描点；

步骤二：将所述的高精度扫描探雷装置依次摆放于设置的扫描点，开启所述的中子发生器(1)，利用出射中子照射地雷样品，并通过所述的伽马射线探测器(2)收集地雷样品伽马能谱；

步骤三：利用步骤二中获得的地雷样品伽马能谱，分析地雷样品中氮元素特征峰面积值，根据所述的每一枚伽马射线探测器(2)的信息记录分析结果，分别绘制三条地雷样品中氮元素特征峰面积值随扫描点变化的曲线；

步骤四：利用步骤三中绘制的曲线，选取两个曲线交点并确定其所在扫描点，在每个扫描点以特征峰面积值响应相同的两个探测器轴心为端点做直线，同时绘制该直线的中垂线，最终共获取两条中垂线；

步骤五：基于步骤四中获得的两条中垂线，确定并计算其交点坐标，该坐标即为地雷样品的精确位置。

2.如权利要求1所述的高精度扫描探雷装置的扫描检测方法，其特征在于：所述的中子发生器(1)为D-T中子发生器，产生能量为14MeV的中子，中子出射方向为4π方向，所述的中子发生器供电控制设备可控制所述的中子发生器(1)的中子产额。

3.如权利要求1所述的高精度扫描探雷装置的扫描检测方法，其特征在于：所述的中子防护层(4)呈环状，为含硼聚乙烯材料制作，碳化硼含量为5%-10%以重量计，厚度为160mm-200mm，高度为110mm-130mm，位于中子发生器(1)靶点上方10mm处。

4.如权利要求1所述的高精度扫描探雷装置的扫描检测方法，其特征在于：所述的探测器支架(3)为铝合金材料制作，三个力臂之间夹角均为120°，环绕所述的中子发生器(1)排布，轴心角呈120°，置于所述的探测器支架(3)上的伽马射线探测器(2)亦均匀排布于所述的中子发生器(1)四周。

5.如权利要求1所述的高精度扫描探雷装置的扫描检测方法，其特征在于：所述的伽马射线探测器(2)为锗酸铋探测器、碘化钠探测器或溴化镧探测器，晶体直径101.6mm，高101.6mm。