[发明专利]双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构及其制备方法在审
申请号: | 201811472129.7 | 申请日: | 2018-12-04 |
公开(公告)号: | CN109638101A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 郭小勇;易治凯;汪涛;王永谦 | 申请(专利权)人: | 江苏爱康能源研究院有限公司 |
主分类号: | H01L31/072 | 分类号: | H01L31/072;H01L31/0725;H01L31/074;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 江阴市扬子专利代理事务所(普通合伙) 32309 | 代理人: | 隋玲玲 |
地址: | 215600 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 掺杂层 非晶硅 导电膜 非晶硅本征层 第一层 发射极结构 掺杂 薄膜 制备 光电转换效率 导电性 太阳能电池 背光面 透过率 电极 本征 两层 背面 | ||
1.一种双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构,它包括N型晶体硅片(1),所述N型晶体硅片(1)的正面和背面均设有非晶硅本征层(2),正面和背面的非晶硅本征层(2)的外侧均设有TCO导电膜(7),所述TCO导电膜(7)的外侧设有若干Ag电极(8),其特征在于:所述N型晶体硅片(1)的背面的非晶硅本征层(2)和TCO导电膜(7)之间设有两层掺杂浓度不同的非晶硅掺杂层,即第一层掺杂层(5)和第二层掺杂层(6),所述第一层掺杂层(5)设置在靠近非晶硅本征层(2)的一侧,所述第二层掺杂层(6)设置在靠近TCO导电膜(7)的一侧。
2.根据权利要求1所述的一种双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构,其特征在于:所述第一层掺杂层(5)的厚度为1~20nm,掺杂浓度为0.5%~1%。
3.根据权利要求1所述的一种双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构,其特征在于:所述第二层掺杂层(6)的厚度为1~20nm,掺杂浓度为1%~4%。
4.一种权利要求1所述的双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构的制备方法,其特征在于,包括以下几个步骤:
第一步、选取基材N型单晶硅片(1)进行制绒、清洗处理;
第二步、通过PECVD制备正背面的双本征非晶硅层;
第三步、选取N型非晶硅膜为受光面掺杂层;
第四步、使用等离子体增强化学气相沉积制备N型非晶硅层,即非晶硅掺杂层N层(3);
第五步、使用PECVD制备P型非晶硅层,第一层采用0.5%~1%的掺杂浓度形成第一掺杂层(5),第二层采用1%~4%的掺杂浓度形成第二掺杂层(6);
第六步、使用RPD或者PVD方法沉积TCO导电膜(7);
第七步、通过丝网印刷形成正背面Ag电极(8);
第八步、固化使得银栅线与TCO导电膜(7)之间形成良好的欧姆接触;
第九步、进行测试电池的电性能。
5.根据权利要求4所述的双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构的制备方法,其特征在于: 所述第一掺杂层(5)的厚度为1~20nm,所述第二掺杂层(6)的厚度为1~20nm,两层非晶硅掺杂层的总厚度为7~15nm。
6.根据权利要求4所述的双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构的制备方法,其特征在于: 所述正背面的非晶硅本征层(2)厚度为5~10nm。
7.根据权利要求4所述的双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构的制备方法,其特征在于: 所述非晶硅掺杂层N层(3)厚度为4~8nm。
8.根据权利要求4所述的双层非晶硅掺杂层太阳电池的发射极结构的制备方法,其特征在于:所述TCO导电膜(7)厚度为70~110nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的