[发明专利]以非均匀延迟间隔测量通过液晶可变延迟器的路径延时

权利要求书

1.一种方法，其包括：

对液晶可变延迟器施加电压，所述电压在一时间段内单调地改变延迟且改变所述液晶可变延迟器的所述延迟相对于时间的一阶导数；以及

测量在所述时间段期间穿过所述液晶可变延迟器的光的干涉图。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述干涉图包括短波长分量和长波长分量，所述延迟的所述单调改变和所述一阶导数的所述改变增加所述干涉图的所述短波长分量的所述测量的灵敏度。

3.根据权利要求1所述的方法，其中测量所述干涉图包括在第一采样时间内对以第一延迟为中心的第一延迟范围内的所述光进行采样，所述第一采样时间大于用以对第二延迟范围中的所述光进行采样的第二采样时间，所述第二延迟范围的大小与所述第一延迟范围相同且以第二延迟为中心，所述第二延迟的量值大于所述第一延迟。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述延迟的所述单调改变和所述一阶导数的所述改变使得通过较低延迟范围的过渡时间长于通过更高延迟范围。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述延迟相对于时间的所述一阶导数与所述延迟加在某一时间间隔内相对于时间的恒定偏移成比例。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述一阶导数根据分段常值函数而变化。

7.一种方法，其包括：

对液晶可变延迟器施加电压，所述电压在一时间段内单调地改变所述液晶可变延迟器的延迟；以及

在所述时间段期间以非均匀的延迟间隔对穿过所述液晶可变延迟器的光的干涉图进行采样。

8.根据权利要求7所述的方法，其中以基本均匀的时间间隔对所述干涉图进行采样，同时改变所述延迟相对于时间的一阶导数。

9.一种设备，其包括：

偏振干涉仪，其包括液晶可变延迟器；以及

控制器，其耦合到所述液晶可变延迟器，所述控制器可用于：

对所述液晶可变延迟器施加电压，所述电压在一时间段内单调地改变延迟且改变所述液晶可变延迟器的所述延迟相对于时间的一阶导数；以及

测量在所述时间段期间穿过所述液晶可变延迟器的光的干涉图。

10.根据权利要求9所述的设备，其中所述干涉图包括短波长分量和长波长分量，所述延迟的所述单调改变和所述一阶导数的所述改变增加所述干涉图的所述短波长分量的所述测量的灵敏度。