[发明专利]一种基于光强检测的纳米间距测量装置和方法在审
申请号: | 201811477642.5 | 申请日: | 2018-12-05 |
公开(公告)号: | CN109539998A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 王二伟;范印波;何军锋;任亚杰 | 申请(专利权)人: | 陕西理工大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 汉中市铭源专利代理事务所(普通合伙) 61235 | 代理人: | 杨悦 |
地址: | 723000 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 玻璃层 光强检测装置 光学反射膜 谐振腔 间距测量装置 光强检测 金属钛层 间距层 金属金 表面等离子体 光学检测技术 半反半透膜 高反射率膜 高精度检测 光刻技术 五层结构 近场 可用 申请 补充 | ||
1.一种基于光强检测的纳米间距测量装置,其特征是:包括谐振腔式光强检测装置,所述谐振腔式光强检测装置包括SPR传感器,所述SPR传感器由五层结构组成,第一层至第五层分别为BK7玻璃层A(1)、金属钛层(2)、金属金层(3)、待测纳米间距层(4)和BK7玻璃层B(5),所述BK7玻璃层A(1)、金属钛层(2)、金属金层(3)、待测纳米间距层(4)和BK7玻璃层B(5)依次按顺序分布固定;将所述BK7玻璃层A(1)的两侧边分为AB边和AC边,在所述BK7玻璃层A(1)的AB边和AC边上镀有光学反射膜,且其中AB边上的光学反射膜为高反射率膜,AC边上的光学反射膜为半反半透膜。
2.根据权利要求1所述的一种基于光强检测的纳米间距测量装置,其特征是:所述BK7玻璃层A(1)为三棱镜结构,且其底角角度为43.85°;所述BK7玻璃层B(5)为平板玻璃。
3.根据权利要求1所述的一种基于光强检测的纳米间距测量装置,其特征是:所述金属钛层(2)的厚度为2.5nm;所述金属金层(3)的厚度为44.3-44.7nm;所述测纳米间距层(4)的高度小于200nm。
4.一种基于光强检测的纳米间距测量方法,其特征是:
1)、BK7玻璃层A(1)的底角设定为本装置的共振角度,入射光束满足共振条件,会在金层中激发出表面等离子体波;TM模式激光束垂直入射到所述BK7玻璃层A(1)的AB边上;
2)、出射光束以垂直角度入射到所述AC边上,AC面上镀有光学反射薄膜,部分光强出射,部分光强被反射后原路返回;
3)、原路返回的光强再次经过5层结构后,仍产生表面等离子体共振效应,AB边和AC边形成一个光学谐振腔,出射光束强度为多光束相干叠加的结果。
4)、出射光强为纳米间距d的单值函数,在实验中测量出光强值,然后通过反演计算得到纳米间距的值。
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