[发明专利]阵列基板的测试方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，所述阵列基板的测试方法包括以下步骤：

根据固化垫电路在测试电路板中的排布顺序，依次对所述固化垫电路施加固化驱动信号，所述固化垫电路连接有至少两块阵列基板；

通过所述固化驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试；

若接收到的阵列测试信号与经过固化垫电路前输入的测试信号存在信号波形差异，判定所述固化垫电路至少有一块阵列基板存在开路或短路的情况；

若接收到的阵列测试信号与经过固化垫电路前输入的测试信号不存在信号波形差异，判定所述固化垫电路中连接的阵列基板都是导通的情况。

2.如权利要求1所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述通过所述固化驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试的步骤之后，还包括：

获取所有固化驱动信号测试不导通的固化垫电路；

将所述测试不导通的固化垫电路中的阵列基板作为目标阵列基板；

根据所述目标阵列基板对应的测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，依次对所述目标阵列基板进行阵列测试。

3.如权利要求2所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标阵列基板对应的测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，依次对所述目标阵列基板进行阵列测试的步骤包括：

根据所述测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，依次对所述测试垫电路施加测试驱动信号；

通过所述测试驱动信号对所述目标阵列基板进行阵列测试。

4.如权利要求2或3所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标阵列基板对应的测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，依次对所述目标阵列基板进行阵列测试的步骤之后，还包括：

在阵列测试结果为开路或短路时，判定所述目标阵列基板测试不通过；

在阵列测试结果为导通时，判定所述目标阵列基板测试通过。

5.如权利要求1所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述通过所述固化驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试的步骤之后，还包括：

在固化驱动信号测试不导通时，获取所述固化垫电路中的阵列基板对应的测试垫电路；

根据所述测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试。

6.如权利要求5所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试的步骤包括：

根据所述测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，依次对所述测试垫电路施加测试驱动信号；

通过所述测试驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试。

7.如权利要求5或6所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试垫电路在所述测试电路板中的排布顺序，对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试的步骤之后，还包括：

在阵列测试结果为开路或短路时，判定所述阵列基板测试不通过；

在阵列测试结果为导通时，判定所述阵列基板测试通过。

8.如权利要求1所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述通过所述固化驱动信号对所述固化垫电路中的阵列基板进行阵列测试的步骤之后，还包括：

在阵列测试结果为导通时，判定所述固化垫电路中的所有的阵列基板测试通过。

9.一种阵列基板的测试装置，其特征在于，所述阵列基板的测试装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的阵列基板的测试程序，所述阵列基板的测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的阵列基板的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有阵列基板的测试程序，所述阵列基板的测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的阵列基板的测试方法的步骤。