[发明专利]芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待检测芯片的芯片图像；根据芯片图像生成对应的图像矩；根据图像矩生成对应芯片图像的识别算子；若芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；若芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。采用本申请能够提高芯片合格性检测的准确性。

技术领域

本申请涉及贴装技术领域，特别是涉及一种芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

在芯片生产的生产线上，通常需要对芯片进行合格性检测、定位贴装等。例如，在SIM(Subscriber Identification Module用户识别模块)芯片生产线上，需要检测SIM芯片是否合格、对SIM芯片进行定位以确定对SIM芯片贴装的位置。

传统方式中一般是采用模板匹配法进行芯片识别检测，但是模板匹配法存在对噪音敏感的问题，出现合格性检测错误的情况较多，错误率比较高。

发明内容

基于此，有必要针对传统的芯片合格性检测错误率高的技术问题，提供一种能够提高检测准确率的芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种芯片检测方法，所述方法包括：

获取待检测芯片的芯片图像；

根据所述芯片图像生成对应的图像矩；

根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。

一种芯片检测装置，所述装置包括：

图像获取模块，用于获取待检测芯片的芯片图像；

图像矩计算模块，用于根据所述芯片图像生成对应的图像矩；

识别算子计算模块，用于根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；

第一结果生成模块，用于在所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配时，生成检测合格结果；

第二结果生成模块，用于在所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配时，生成检测不合格结果。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取待检测芯片的芯片图像；

根据所述芯片图像生成对应的图像矩；

根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取待检测芯片的芯片图像；

根据所述芯片图像生成对应的图像矩；

根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；

若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。