[发明专利]一种采用磁控溅射制备的Sr3 有效
申请号: | 201811486615.4 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109628900B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 王霞;李培刚;唐为华 | 申请(专利权)人: | 唐为华 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王文君;陈征 |
地址: | 100086 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采用 磁控溅射 制备 sr base sub | ||
1.一种采用磁控溅射制备用于光电器件上的Sr3Al2O6薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)先取一块Sr3Al2O6陶瓷靶材备用,靶材尺寸规格为:直径约25 mm,厚度约4 mm;再取一片10 mm × 10 mm大小的Si衬底;将衬底依次浸泡在丙酮、无水乙醇、去离子水中各超声15分钟,取出后用干燥的氮气吹干,待用;
2)将Sr3Al2O6陶瓷靶材和深度清洁后的硅衬底,放入磁控沉积室,采用磁控溅射沉积技术进行薄膜沉积,即得Sr3Al2O6薄膜;
具体参数如下:功率为120W、衬底温度为750℃,本底真空为1×10-4 Pa,通入纯净干燥的氩气后,沉积室的气压为0.8 Pa,沉积时间为2小时,靶材与基板之间的间距为10cm。
2.权利要求1所述方法制得的Sr3Al2O6薄膜。
3.权利要求2所述的Sr3Al2O6薄膜在光电器件上的应用。
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