[发明专利]二维以及三维快速自旋回波成像方法有效
申请号: | 201811488300.3 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN109596659B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 杜一平 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 唐雪娇;徐迅 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二维 以及 三维 快速 自旋 回波 成像 方法 | ||
1.一种二维快速自旋回波成像方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
a.提供射频脉冲,激发一个层面;
b.对所述层面连续施加选层的多个重聚焦射频脉冲和损毁梯度;
其中,在每组所述重聚焦射频脉冲结束后施加相位编码梯度,利用所述相位编码梯度的作用面积确定每个回波对应的相位编码步Ky,相位编码反绕梯度在下一个所述重聚焦射频脉冲开始前结束;
频率编码梯度以一个预补偿梯度Gx,p开始,后续都是一连串同向的频率编码梯度;
每个所述重聚焦射频脉冲对应的右损毁梯度结束后所述频率编码梯度到达平台期,并在下一个所述重聚焦射频脉冲对应的左损毁梯度开始前平台期结束;以及
在频率编码梯度平台期内数据采集窗口与所述相位编码梯度以及所述相位编码反绕梯度部分重叠,形成K空间轨迹,所述K空间轨迹为非笛卡尔采样;
c.在所述频率编码梯度平台期的持续时间内采集信号;
d.相位误差校正,对序列增加参考扫描,多采集一个零相位编码的TR,从而得到多个零相位编码的回波;每个所述回波的相位误差可由所述回波的数据通过线性拟合得到,再将所述相位误差用于校正后面采得的回波;以及
e.二维快速自旋回波图像非笛卡尔重建,利用施加梯度的积分计算或由其他K-空间轨迹测量方法测量得到所述K-空间轨迹的信息。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述相位编码梯度的实施可采取如下步骤:保持所有所述回波的所述相位编码梯度的作用时间和所述相位编码反绕梯度的作用时间恒定不变,且上坡时间、持续时间以及下降时间均一致,不同回波相位编码步之间线性增加的面积就由线性增加的梯度强度实现。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述相位编码梯度的实施可采取如下步骤:保持所有所述回波的所述相位编码梯度和相位编码反绕梯度强度不变,随着相位编码步Ky增加,所述相位编码梯度和所述相位编码反绕梯度的作用时间增加。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述频率编码梯度平台期内,在不增加回波间隙的条件下,通过延长读出窗口的时间,增大K-空间Kx的最大值。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述频率编码梯度平台期内,在缩短回波间隙的条件下,保持K-空间Kx的最大值不变。
6.一种三维快速自旋回波成像方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
a.提供射频脉冲,激发一个块层;
b.连续施加选块的多个重聚焦射频脉冲和损毁梯度;
其中,每个所述重聚焦射频脉冲对应的右损毁梯度结束后施加选片编码梯度,选片编码反绕梯度在下一个所述重聚焦射频脉冲对应的左损毁梯度开始前结束;
每个所述重聚焦射频脉冲结束后施加相位编码梯度,所述相位编码反绕梯度在下一个所述重聚焦射频脉冲开始前结束;
每个所述重聚焦射频脉冲对应的右损毁梯度结束后频率编码梯度到达平台期,并在下一个所述重聚焦射频脉冲对应的左损毁梯度开始前平台期结束;
所述频率编码梯度以一个预补偿梯度Gx,p开始,后续都是连续同向的频率编码梯度;
每个所述重聚焦射频脉冲对应的右损毁梯度结束后频率编码梯度到达平台期,并在下一个所述重聚焦射频脉冲对应的左损毁梯度开始前平台期结束;以及
在频率编码梯度平台期内数据采集窗口与所述选片编码梯度、相位编码梯度、选片编码反绕梯度以及相位编码反绕梯度部分重叠,形成K-空间轨迹,所述K-空间轨迹为非笛卡尔采样;
c.在频率编码梯度平台期的持续时间内采集信号;
d.相位误差校正,对序列增加参考扫描,多采集一个零相位编码的TR,从而得到多个零相位编码的回波;每个所述回波的相位误差可由这些回波的数据通过线性拟合得到,再将这个相位误差用于校正后面采得的回波;以及
e.三维快速自旋回波图像非笛卡尔重建,利用施加梯度的积分计算或其他K-空间轨迹测量方法测量得到所述K-空间轨迹的信息。
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