[发明专利]一种金属薄片试样硬度测试方法

权利要求书

1.一种金属薄片试样硬度测试方法，其包括使薄片试样固定在薄片试样模具上组成带模具试样组件后，将其以薄片试样测试表面朝上、水平地安置在适合于测试金属薄片试样硬度的表面硬度计的载物台上，然后，按常规程序在薄片试样的上表面的硬度测试区域进行各硬度测试点的硬度相关参量测试及取值，再分别由表面硬度计的电脑计算出各硬度测试点的硬度值，其特征是：其步骤是：(1)制备所述的薄片试样模具：所述的薄片试样模具的组成结构是：其由上压板，下压板，压紧螺栓组成，压紧螺栓的上端与上压板的下平面中部相垂直联结固定后穿过下压板中部的通孔及螺帽，将螺帽套于螺杆下端上并将其向右旋转，可将下压板向上推压使其上平面与上压板的下平面相贴合，也可再向左旋转螺帽而使上压板、下压板之间松动分离，上压板上带有数个垂直于其下表面的通孔，其下端口尺寸小于薄片试样上表面尺寸、大于表面硬度计的压头的下段的相应高度处横截面尺寸(所述的相应高度处横截面是指表面硬度计的压头通过所述的通孔对同类试样在所述的硬度测试区域中部进行硬度测试过程中，当压头的位置最低时其与上压板的上表面等高处的横截面)；上压板的厚度小于表面硬度计的压头长度并取较小值；(2)组装所述的带模具试样组件并将其安置于所述的表面硬度计的所述的载物台上面：所述的薄片试样活动安装在薄片试样模具的上压板与下压板之间而构成带模具试样组件，其薄片试样的片数为不多于所述的上压板上的所述的通孔的个数的1-8片，使每片所述的薄片试样的上平面中部分别位于至少一个所述的上面板上的通孔的下方，各薄片试样之间不上下重叠，使薄片试样被压平至表面平整度达到硬度测试要求；所述的带模具试样组件的下端面可平稳地、水平安置在所述的表面硬度计的载物台上面；(3)测试薄片试样的硬度：所述的硬度测试区域是所述的上压板的所述的通孔所包围的区域；所述的表面硬度计的压头及压痕测量装置，通过所述的上压板上的所述的通孔对其下方所述的硬度测试区域上的各硬度测试点进行所述的硬度相关参量的测试及取值；(4)卸下所述的薄片试样：左旋转动所述的螺帽，松动分离所述的上压板、薄片试样、下压板后卸下所述的薄片试样。

2.根据权利要求1所述之一种金属薄片试样硬度测试方法，其特征是：所述的表面硬度计是适合于金属薄片试样硬度测试的表面硬度计。

3.根据权利要求1所述之一种金属薄片试样硬度测试方法，其特征是：所述的薄片试样模具的所述的压紧螺栓的所述的螺帽由下端面为平面的法兰板及位于其上面中部并垂直于其下端面、自上端面向下带1个带螺纹盲孔的立柱构成，其水平投影尺寸大于所述的下压板的下端面尺寸。

4.根据权利要求1或3所述之一种金属薄片试样硬度测试方法，其特征是：所述的薄片试样模具的所述的下压板的下面上边沿带包围所述的螺杆下端及螺帽的等高环形凸缘(即下压板的下面环形凸缘以内为凹坑)，其内侧空间的水平投影尺寸大于所述的螺帽及旋转其需用的工具的水平截面尺寸，所述的螺杆的长度小于所述的上压板加所述的薄片试样加所述的下压板厚度，大于所述的螺杆的长度小于所述的上压板加所述的薄片试样加所述的下压板中部凹坑加所述的螺帽高度。

5.根据权利要求1所述之一种金属薄片试样硬度测试方法，其特征是：所述的上压板上的所述的通孔，其是矩形横截面通孔，其横截面长度方向朝向所述的螺栓的螺杆方向。