[发明专利]一种快速测定瓷砖外照射剂量基片制备方法及应用在审
| 申请号： | 201811493044.7 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111076991A | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 李强;唐奇;吴飞翔;顾晓朦;廖丽肖;尹水龙 | 申请（专利权）人： | 广东特地陶瓷有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 佛山东平知识产权事务所(普通合伙) 44307 | 代理人： | 詹仲国 |
| 地址： | 528000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 快速 测定 瓷砖 照射 剂量 制备 方法 应用 | ||
【权利要求书】：
1.一种快速测定瓷砖外照射剂量基片制备方法及应用，其特征在于：制备以ThO2为主要放射性比活度检测对象的无择优取向试片，配方中主要成分按照化学组成百分比为：Li2Bi4O7 55%-70%；LiBiO2 30%-45%；SiO2 0%-3%；ThO2 0%-2%；CeO2 0%-0.2%。
2.根据权利要求1的一种快速测定瓷砖外照射剂量基片制备方法及应用，其制备方法为：各材料按以上配比准确称量，研磨充分混合后全部粉末细度用200目筛过，将得到粉料均匀地洒入于铂金坩埚中，置于熔融炉托架上升温至1050℃, 熔融5min后摇摆混合物均匀10min，保温5min，将熔样倒入预热至600℃的圆形不锈钢模具中（直径35mm*3mm），自然冷却后剥离得到标准样片。
3.根据权利要求1的一种快速测定瓷砖外照射剂量基片制备方法及应用，其特征在于：重复以上过程，其样片中ThO2含量应至少包含0%、0.2%、0.4%这3种为基准片。
4.根据权利要求1的一种快速测定瓷砖外照射剂量基片制备方法及应用，其特征在于：以此为基准片，可对建材产品在线检测用粒子检测器或盖革计数器进行快速标定校正。
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