[发明专利]被测目标物表面缺陷判别方法及装置、计算机可读取介质

说明书

本发明公开了一种被测目标物表面缺陷判别方法及装置、计算机可读取介质，该被测目标物表面缺陷判别方法包括：获取被测目标物表面的图像；对图像进行预处理，得出被测目标物表面的缺陷区域；对缺陷区域进行椭圆拟合，得出拟合后的缺陷区域的缺陷参数；根据缺陷参数确定被测目标物表面缺陷的类型。通过对缺陷区域进行椭圆拟合得出缺陷区域的缺陷参数，相比相关技术中通过单一面积或长度参数对缺陷进行度量，可以使对缺陷的度量更加的全面，从而更好的判别被测目标物表面缺陷的类型。

技术领域

本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种被测目标物表面缺陷判别方法及装置、计算机可读介质。

背景技术

在工业生产中，均会通过对被测目标物表面缺陷进行检测的方法来判别被测目标物的等级及合格率。

相关技术中，对被测目标物表面缺陷进行检测时，会基于表面缺陷的面积、长度和/或宽度对缺陷进行度量，但面积相同的缺陷在形态上确有很大差异；相同的长度的缺陷，其宽度会存在相应的差异，无法通过简单的参数对缺陷进行判别。

因此，如何在表面缺陷检测中对缺陷进行判别是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种被测目标物表面缺陷判别方法及装置、计算机可读介质，用以解决相关技术中无法对被测目标物表面缺陷进行判别的问题。

本发明实施例提供了一种被测目标物表面缺陷判别方法，包括：

获取被测目标物表面的图像；

对所述图像进行预处理，得出所述被测目标物表面的缺陷区域；

对所述缺陷区域进行椭圆拟合，得出拟合后的所述缺陷区域的缺陷参数；

根据所述缺陷参数确定所述被测目标物表面缺陷的类型。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述被测目标物表面缺陷判别方法中，所述对所述缺陷区域进行椭圆拟合，得出拟合后的所述缺陷区域的缺陷参数；具体包括：

确定所述缺陷区域的中心位置的坐标；

根据所述缺陷区域的中心位置的坐标和所述缺陷区域内各像素的坐标，采用空间矩的方法计算出各所述像素坐标的二阶矩；

根据各所述像素坐标的二阶矩计算出待拟合椭圆的长半轴和短半轴。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述被测目标物表面缺陷判别方法中，所述确定所述缺陷区域的中心位置的坐标，具体包括：

根据所述缺陷区域内所有所述像素坐标的平均值确定所述缺陷区域的中心位置的坐标。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述被测目标物表面缺陷判别方法中，所述根据所述缺陷区域的中心位置的坐标和所述缺陷区域内各像素的坐标，采用空间矩的方法计算出各所述像素坐标的二阶矩，具体包括：采用下列公式计算各所述像素坐标的二阶矩：

其中，M₂₀表示各所述像素的横坐标的方差，M₀₂表示各所述像素的纵坐标的方差，M₁₁表示各所述像素横纵坐标的协方差，r表示各所述像素的横坐标，c表示各所述像素的纵坐标，r₀表示所述缺陷区域的中心位置的横坐标，c₀表示所述缺陷区域的中心位置的纵坐标，N表示所述缺陷区域内所述像素的个数，R表示所述缺陷区域内的像素坐标。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述被测目标物表面缺陷判别方法中，所述根据各所述像素坐标的二阶矩计算出待拟合椭圆的长半轴和短半轴，具体包括：