[发明专利]线扫描高分辨力立体视觉测量系统与方法有效
申请号: | 201811496664.6 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN109470144B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 刘俭;李勇;王伟波;赵一轩 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 崔自京 |
地址: | 150000 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描 分辨力 立体 视觉 测量 系统 方法 | ||
1.线扫描高分辨力立体视觉测量系统,其特征在于,包括:
三维物体(1)和多个线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置(15);
线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置(15),包括激光照明模块、视觉摄像模块、线扫描放大测量模块;
所述激光照明模块按照照明光传播方向依次为:激光器(11)、PBS(10)、一维振镜(9)、扫描透镜(8)、场镜一(7)、管镜(6)、1/4波片(5)、柱面镜一(4)、场镜二(3)和摄影镜头(2);
所述视觉摄像模块为:摄影镜头(2)、场镜二(3)、柱面镜一(4)、1/4波片(5)、管镜(6)、场镜一(7)、扫描透镜(8)、一维振镜(9)、PBS(10)、柱面镜二(12)、狭缝(13)和线阵PMT探测器(14);
所述线扫描放大测量模块按照信号光传播方向依次为:激光器(11)、PBS(10)、一维振镜(9)、扫描透镜(8)、场镜一(7)、管镜(6)、1/4波片(5)、柱面镜一(4)、场镜二(3)、柱面镜一(4)、1/4波片(5)、管镜(6)、场镜一(7)、扫描透镜(8)、一维振镜(9)、PBS(10)、柱面镜二(12)、狭缝(13)和线阵PMT探测器(14);
所述激光照明模块、视觉摄像模块、线扫描放大测量模块共用场镜二(3)、柱面镜一(4)、1/4波片(5)、管镜(6)、场镜一(7)、扫描透镜(8)、一维振镜(9)、PBS(10);
所述激光照明模块、视觉摄像模块还共用摄影镜头(2);
所述激光照明模块、线扫描放大测量模块共用激光器(11);
所述视觉摄像模块、线扫描放大测量模块共用柱面镜二(12)、狭缝(13)和线阵PMT探测器(14);
所述激光照明模块中激光器(11)发出激光,准直后形成平行光,经过PBS反射后再经过一维振镜(9)和扫描透镜(8)后聚焦于场镜一(7)光心位置处,光束经过管镜(6)后形成平行光后经1/4波片(5)后被柱面镜一(4)聚焦为线光束于场镜二(3)主面位置,再经摄影镜头(2)聚焦于三维物体(1)表面形成聚焦线光斑,所述聚焦线光斑照射三维物体(1)表面发出反射光;
所述三维物体(1)表面发出的反射光依次经过摄影镜头(2)、场镜二(3)、柱面镜一(4)、1/4波片(5)、管镜(6)、场镜一(7)、扫描透镜(8)、一维振镜(9)、PBS(10)和柱面镜二(12)、狭缝(13)后被线阵PMT探测器(14)收集。
2.根据权利要求1所述的线扫描高分辨力立体视觉测量系统,其特征在于,所述线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置(15)的成像方式为振镜扫描及柱面镜线扫描成像连用。
3.根据权利要求1所述的线扫描高分辨力立体视觉测量系统,其特征在于,所述线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置(15)为线扫描成像。
4.根据权利要求1所述的线扫描高分辨力立体视觉测量系统实现线扫描高分辨力立体视觉测量的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤a、根据具体需求选择几个线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置组成线扫描高分辨力立体视觉测量系统;
步骤b、对每一线扫描高分辨力立体视觉单目测量装置进行单目矫正;
步骤c、对整体立体视觉测量系统进行矫正;
步骤d、将三维物体放置在清晰成像处并对三维物体进行成像并计算形貌。
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