[发明专利]一种电学参数检定装置综合自检方法在审
申请号: | 201811499821.9 | 申请日: | 2018-12-09 |
公开(公告)号: | CN109856576A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 张鹏程;刘晓旭;张修建;张铁犁;王兵;高翌春;葛萌;谢阳 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京国之大铭知识产权代理事务所(普通合伙) 11565 | 代理人: | 李卉 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试板卡 检定系统 自检 通道切换卡 纵向切换 电学参数 检定装置 通道连接 测试资源 设计效率 自检功能 纵向设置 多通道 系统级 综合分析 工作量 开发 | ||
本发明涉及一种电学参数检定装置综合自检方法,其包括步骤:设置通道切换卡:通道切换卡包括若干横向切换通道和若干纵向切换通道;检定系统包括多通道的测试板卡;将各通道的测试板卡分别与横向切换通道连接,同时,各通道的测试板卡还分别与纵向切换通道连接;结合通道切换卡的横向和纵向设置,将各通道的测试板卡通过横向切换通道和纵向切换通道进行自检或互检。本发明提高了检定系统的设计效率,减少独立自检功能开发的工作量、周期和成本,综合分析并利用检定系统具备的测试资源,并实现对检定系统进行系统级的自检。
技术领域
本发明涉及电气参数检定领域,具体是关于一种用于对电气参数进行全面自检的电学参数检定装置综合自检方法。
背景技术
随着电学参数专用测试设备种类越来越多,对检定系统的参数要求也越来越多。按照检定流程,检定系统在开始检定前要进行功能自检,确保检定系统正确可靠。
为了提高检定系统国产化率,强调自主研发各种测试板卡,通常各种测试板卡除了具备基本测试功能,还需要具备独立自检功能,然而各种测试板卡独立的自检功能不仅自检效率低,而且开发工作量大,甚至会遇到功能多与板卡面积有限的冲突的问题。
发明内容
针对上述专用测试设备检定系统的研发周期短,设计任务重问题,本发明的目的是提供一种电学参数检定装置综合自检方法,其提高了检定系统的设计效率,减少独立自检功能开发的工作量、周期和成本,综合分析并利用检定系统具备的测试资源,并实现对检定系统进行系统级的自检。
为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:电学参数检定装置综合自检方法,其包括以下步骤:1)设置通道切换卡:通道切换卡包括若干横向切换通道和若干纵向切换通道;2)检定系统包括多通道的测试板卡;3)将各通道的测试板卡分别与横向切换通道连接,同时,各通道的测试板卡还分别与纵向切换通道连接;4)结合通道切换卡的横向和纵向设置,将各通道的测试板卡通过横向切换通道和纵向切换通道进行自检或互检。
进一步,所述步骤1)中,横向切换通道与纵向切换通道构成网格状结构。
进一步,所述步骤1)中,位于每一切换通道入口处均设置有控制开关。
进一步,所述步骤4)中,利用设置在切换通道入口处的控制开关实现各通道的测试板卡的自检或互检。
进一步,所述步骤2)中,测试板卡包括直流电压标准源、直流电流标准源、直流电压测量和直流电流测量板卡。
本发明由于采取以上技术方案,其具有以下优点:本发明通过通道切换设计,在不影响检定系统检定专用测试设备的前提下,实现检定系统自检的系统级设计,提高了检定效率,加快了开发周期和人力成本。
附图说明
图1是本发明的整体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。
如图1所示,本发明提供一种电学参数检定装置综合自检方法,其包括以下步骤:
1)设置通道切换卡:通道切换卡包括若干横向切换通道和若干纵向切换通道,横向切换通道与纵向切换通道构成网格状结构。其中,位于每一切换通道入口处均设置有控制开关。
2)根据对检定系统常规电学参数的统计,通常包括多通道的测试板卡:直流电压标准源、直流电流标准源、直流电压测量和直流电流测量等板卡。
3)将各通道的测试板卡分别与横向切换通道连接,同时,各通道的测试板卡还分别与纵向切换通道连接;
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