[发明专利]一种CCY-2型测磁仪测量精度检测装置及其使用方法

权利要求书

1.一种CCY-2型测磁仪测量精度检测装置，其特征在于：包括检测开关、标准可调恒流源、电流控制芯片、A/D转换模块、电流采集模块、信号处理芯片以及与信号处理芯片电性连接的显示板；CCY-2型测磁仪的测量电路的输出端接入电流采集模块的输入端，所述电流采集模块的输出端分别接入电流控制芯片的输入端和信号处理芯片的输入端；所述电流控制芯片的输出端接至标准可调恒流源的输入端，所述标准可调恒流源的输出端经过检测开关接至所述CCY-2型测磁仪的标准测量线圈的输入端；所述标准可调恒流源的输出端还与A/D转换模块的输入端相连，所述A/D转换模块的输出端接至信号处理芯片的输入端；在待检测CCY-2型测磁仪上增设精度检测端口，所述检测装置以外接设备的形式通过精度检测端口与CCY-2型测磁仪对接；待检测CCY-2型测磁仪中的测量线圈更换成线圈常数经过专业计量的标准测量线圈：CCY-2型测磁仪首次正式使用前，必须通过CCY-2型测磁仪精度检测装置测量并存储磁场检测曲线，该检测曲线即为后续CCY-2型测磁仪磁场测量精度的检测标准。

2.根据权利要求1所述的CCY-2型测磁仪测量精度检测装置的方法，其特征在于，所述检测曲线的获取方法，包括以下具体步骤：

(1)CCY-2型测磁仪首次经过参数调整及系统调试运行正常后，由精度检测端口接入CCY-2型测磁仪测量精度检测装置；

(2)启动检测开关后，所述检测装置将由电流控制芯片根据CCY-2型测磁仪的磁场测量值经电流采集模块的反馈信号控制标准可调恒流源，在标准测量线圈上施加补偿电流，使得CCY-2型测磁仪的磁场测量值为0μT；

(3)电流控制芯片控制标准可调恒流源的输出，在此补偿电流的基础上呈线性变化，使标准测量线圈的磁场测量值符合实际所需测量磁场值的闭区间；

(4)步骤(3)所形成的磁场值与施加的线性电流构成的曲线称为磁场检测曲线，存储在电流控制芯片及信号处理芯片中，作为后续CCY-2型测磁仪磁场测量精度的检测标准。

3.根据权利要求2所述的CCY-2型测磁仪测量精度检测装置的方法，其特征在于：信号处理芯片中的电流值由标准可调恒流源输出，经A/D转换模块送入。

4.根据权利要求2或3所述的CCY-2型测磁仪测量精度检测装置的方法，其特征在于：在CCY-2型测磁仪首次使用后，进行测磁仪测量精度检测，包括以下具体步骤：

(a)启动检测开关后，所述检测装置将由电流控制芯片根据CCY-2型测磁仪磁场测量值的反馈信号控制标准可调恒流源，在标准测量线圈上施加补偿电流，使得CCY-2型测磁仪的磁场测量值为0μT；

(b)电流控制芯片控制标准可调恒流源的输出按照磁场检测曲线中电流的离散值变化，电流输出值实时经A/D转换模块送入信号处理芯片中；

(c)CCY-2型测磁仪的标准测量线圈的磁场测量值通过电流采集模块也同时输入到信号处理芯片中；

(d)信号处理芯片将步骤(b)中输入的电流值与磁场值形成磁场测量曲线；

(e)信号处理芯片将磁场测量曲线与磁场检测曲线进行比对，以误差形式显示在显示板上。

5.根据权利要求4所述的CCY-2型测磁仪测量精度检测装置的方法，其特征在于：当CCY-2型测磁仪测量精度检测装置显示标准测量线圈的测量误差较大时，需要按照CCY-2型测磁仪的使用说明书进行CCY-2型测磁仪参数调整；当参数调整完成后，用所述检测装置重新检测CCY-2型测磁仪的测量精度，仍显示误差较大，说明CCY-2型测磁仪的标准测量线圈的线圈常数已发生变化或线圈已损坏，需要重新定标或更换。