[发明专利]模型建置装置与负载解析系统有效
申请号: | 201811502675.0 | 申请日: | 2018-12-10 |
公开(公告)号: | CN111222078B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 林书纬;张芳懿;洪永杰 | 申请(专利权)人: | 财团法人资讯工业策进会 |
主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06N3/0442;G06N3/0464;G06N3/045;G06N3/049;G06N3/084;G06F18/213;G01R23/16;G01R22/10;G06F123/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 徐伟 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模型 建置 装置 负载 解析 系统 | ||
1.一种模型建置装置,用以解析一单位数据处理期间的一总电表聚合数据,其特征在于,该单位数据处理期间包含多个时间戳,其中该模型建置装置包含:一特性分析模块、一信息映射模块及一时序分析模块,其中
该特性分析模块接收该总电表聚合数据,依据多个检测条件而检测该总电表聚合数据,并依据检测的结果产生多个特性分析信息;
该信息映射模块电连接于该特性分析模块,其中该信息映射模块将该多个特性分析信息映射为分属于多个映射维度的多个编码结果;以及
该时序分析模块电连接于该信息映射模块,其中该时序分析模块依照各该时间戳而分析该多个编码结果的时间关联性,其中,该时序分析模块包含:一关联性分析模块、一基底波形产生模块及一数据合成模块,其中
该关联性分析模块按照各该时间戳的顺序产生与各该时间戳对应的多个第一层过去时间长短期记忆神经元以及与各该时间戳对应的多个第一层未来时间长短期记忆神经元,且根据该多个第一层过去时间长短期记忆神经元所组成的一第一层过去时间序列而产生多个过去时间关联性序列,以及根据该多个第一层未来时间长短期记忆神经元所组成的一第一层未来时间序列而产生多个未来时间关联性序列,其中该多个过去时间关联性序列与该多个未来时间关联性序列定义为多个时间关联性序列;
该基底波形产生模块电连接于该关联性分析模块,其中该基底波形产生模块产生多个过去时序波形与多个未来时序波形,其中该多个过去时序波形与该多个未来时序波形定义为多个共享基底波形;以及
该数据合成模块电连接于该基底波形产生模块,其中,该数据合成模块包含:多个成分波形选择模块及多个成分波形合成模块,其中
该多个成分波形选择模块电连接于该基底波形产生模块,其中该多个成分波形选择模块自该多个共享基底波形中选择一部分作为与一用户在该单位数据处理期间使用的一第一电器对应的多个第一电器成分基底波形,以及自该多个共享基底波形中选择另一部分作为与该用户在该单位数据处理期间使用的一第二电器对应的多个第二电器成分基底波形;以及
该多个成分波形合成模块分别电连接于各该成分波形选择模块,其中
该多个成分波形合成模块通过组合该多个第一电器成分基底波形而产生与该多个时间戳和该第一电器对应的一第一模拟电器特性合成数据,以及通过组合该多个第二电器成分基底波形而产生与该多个时间戳和该第二电器对应的一第二模拟电器特性合成数据。
2.如权利要求1所述的模型建置装置,其特征在于,该多个检测条件包含与该第一电器对应的多组第一电器频谱过滤参数,以及与该第二电器对应的多组第二电器频谱过滤参数,且该特性分析模块包含:
一频谱检测模块,包含:
多个第一电器频谱检测器,其中各该第一电器频谱检测器分别依据各该组第一电器频谱过滤参数而检测该总电表聚合数据,并依据检测的结果而产生多个第一电器频谱特性分析信息;以及
多个第二电器频谱检测器,其中各该第二电器频谱检测器分别依据各该组第二电器频谱过滤参数而检测该总电表聚合数据,并依据检测的结果而产生多个第二电器频谱特性分析信息。
3.如权利要求1所述的模型建置装置,其特征在于,该多个检测条件包含一边缘检测条件,且该特性分析模块包含:
一边缘检测模块,其分别以各该时间戳为中心,依据该边缘检测条件而检测该总电表聚合数据,并依据检测的结果而产生与各该时间戳对应的多个边缘特性分析信息。
4.如权利要求1所述的模型建置装置,其特征在于,该多个映射维度的个数为该单位数据处理期间所包含的该多个时间戳个数的整数倍,且该多个映射维度的个数少于该多个特性分析信息的个数。
5.如权利要求1所述的模型建置装置,其特征在于,该多个成分波形选择模块包含:
一第一成分波形选择模块,其自该多个共享基底波形中选择该多个第一电器成分基底波形,以及决定该多个第一电器成分基底波形彼此间的一第一比例关系,其中该多个第一电器成分基底波形依据该第一比例关系而组合成为该第一模拟电器特性合成数据。
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