[发明专利]用于大幅面板型材料的尺寸测量系统及其测量方法

权利要求书

1.一种用于大幅面板型材料的尺寸测量方法，采用一种用于大幅面板型材料的尺寸测量系统，该系统主要包括：

立体支架，作为大幅面尺寸测量系统的运行框架；

牵引移动装置，安装在所述立体支架上，作为大幅面尺寸测量系统的驱动装置；

样品扫描系统，包括支杆、安装在支杆上的线阵相机阵列，支杆由所述牵引移动装置牵引移动；

标定系统，作为大幅面尺寸测量系统的标定物，由两组棋盘格标定尺组成，位于立体支架底面的四周；

主控系统，用于接收所述样品扫描系统输出的信号，分析并识别图像中的特征信息，根据图像像素与实际尺寸的比例关系计算样品尺寸并将其输出；

该方法包括以下步骤：

S1：所述样品扫描系统在牵引移动装置的驱动下沿轨道近似匀速移动，在运动过程中由支架上的N台线阵相机分别实时扫描各自视野内的待检样品以及标定尺，得到分别拍摄的包含标定尺及待检样品区域的N张图片；

S2：对得到的N张图片提取各自的横向标定尺的横线、竖线及角点信息，所述横向标定尺为与所述支杆平行的标定尺组，通过提取的横线信息分别计算各张图片中横向标定尺相对图像的旋角，对线阵相机的安装位姿进行矫正；

S3：在矫正角度误差后的N张图片的交叉视野处利用提取的横向标定尺的竖线及角点信息对N张图片进行匹配以及精细拼接，得到包含完整的待测物及标定尺的整幅图像；

S4：提取拼接后的整幅图像上标定尺的横线、竖线及角点信息，间隔若干个棋盘格建立标准正交坐标系，得到每个角点在此坐标系中的坐标(x，y)，结合每个角点在标定尺上的位置得到实际坐标(a，b)，建立位置特征关系对[(x，y)，(a，b)]，利用仿射变换将变形的图像矫正到标准正交坐标系下，对因线阵相机的运动造成的图像误差进行矫正；

S5：根据测量需求提取待检样品的特征信息，计算待测两点在坐标系上的距离，利用标定尺的实际尺寸与标准正交坐标系的单位长度的比例关系换算出待测样品的实际尺寸并输出。

2.根据权利要求1所述的用于大幅面板型材料的尺寸测量方法，其特征在于，步骤S2的具体步骤包括：

S2.1：通过提取的横线信息分别计算各张图片中横标定尺相对图像的旋角，记为(α₁～α_N)；

S2.2：以α₁为基准，令α₁＝β₁，分别计算其余(N-1)张图片与α₁的旋角差值，得到α₂-α₁，α₃-α₁，…，α_N-α₁，记作(β₂～β_N)；

S2.3：根据(β₂～β_N)旋转其余(N-1)张图片，将N张图片矫正到同一旋角下。

3.根据权利要求1所述的用于大幅面板型材料的尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S5中，所述特征信息包括待检样品的顶点、边缘、弧线。

4.根据权利要求1所述的用于大幅面板型材料的尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S5中，标定尺的实际尺寸是标准正交坐标系单位长度的整数倍。

5.根据权利要求1所述的用于大幅面板型材料的尺寸测量方法，其特征在于，所述立体支架包括上部支架、第一侧面支架、第二侧面支架，第一侧面支架与第二侧面支架平行排列，并分别位于上部支架的下部两侧面。