[发明专利]测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，包括：

根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；

根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；

分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。

2.如权利要求1所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，所述根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数包括：

根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；

根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。

3.如权利要求2所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，所述根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值包括：

根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；

确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。

4.如权利要求3所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，当读取倍速值为M，且M≠1时，所述确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的时延为最大时延阈值包括：

确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为

5.如权利要求1至4任一项所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，在所述判定所述存储系统的读写性能存在丢帧之后还包括：

生成指示所述存储系统的读写性能不满足预先设置的参数的报警信息。

6.一种测试存储系统读写性能的装置，其特征在于，包括：

创建模块，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；

确定模块，用于根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；

判断模块，用于分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。

7.如权利要求6所述的测试存储系统读写性能的装置，其特征在于，所述创建模块包括：

线程创建单元，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；

路数计算单元，用于根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。

8.如权利要求6或7所述的测试存储系统读写性能的装置，其特征在于，所述确定模块包括：

数据计算单元，用于根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；

阈值确定单元，用于确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。

9.一种测试存储系统读写性能的设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述测试存储系统读写性能的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述测试存储系统读写性能的方法的步骤。