[发明专利]涂层检测方法、装置以及计算机存储介质

说明书

一种涂层检测方法、装置以及计算机存储介质，其中涂层检测方法包括：向待测涂层发送检测超声波；接收所述待测涂层反馈的样本超声波；根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；将所述样本超声波的衰减曲线与预设的标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。采用上述方案，避免了对涂层的损耗，实现无损检测涂层状态。

技术领域

本发明涉及涂层检测领域，尤其涉及一种涂层检测方法、装置以及计算机存储介质。

背景技术

涂层质量是否符合标准，对于产品质量起到至关重要的影响。

现有技术中，通常采用解剖涂层的方式检测涂层质量，专业人员通过解剖得到的涂层判断涂层质量是否符合标准。

然而，解剖涂层通常会对涂层产生一定损耗，可能导致产品因涂层的损耗而报废。

发明内容

本发明解决的技术问题是涂层检测对涂层本身产生损耗。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种涂层检测方法，包括：令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波；根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，根据所述样本超声波的波峰在预设的基准坐标系上对应的横坐标以及纵坐标，生成所述样本超声波的衰减曲线。

可选的，所述标准曲线偏差范围为：根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，从标准曲线数据库中确定的波峰最大值曲线与波峰最小值曲线之间的范围。

可选的，从所述样本超声波的衰减曲线选取预设数量的样本波峰；将所述样本波峰与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，若落在所述标准曲线偏差范围内的波峰数量超过预设阀值，判定所述待测涂层合格。

可选的，记录所述样本超声波的数据信息。

本发明还提供一种涂层检测装置，包括：发送单元，用于令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；接收单元，用于获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波；生成单元，用于根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；对比单元，根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，用于将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，所述生成单元，还用于根据所述样本超声波的波峰在预设的基准坐标系上对应的横坐标以及纵坐标，生成所述样本超声波的衰减曲线。

可选的，所述标准曲线偏差范围为：根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，从标准曲线数据库中确定的波峰最大值曲线与波峰最小值曲线之间的范围。

可选的，所述对比单元，还用于从所述样本超声波的衰减曲线选取预设数量的样本波峰；将所述样本波峰与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，还用于若落在所述标准曲线偏差范围内的波峰数量超过预设阀值，判定所述待测涂层合格。

可选的，所述对比单元，还用于记录所述样本超声波的数据信息。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述任一种的涂层检测方法的步骤。

本发明还提供一种涂层检测装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时所述处理器执行上述任一种的涂层检测方法的步骤。

与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：