[发明专利]阵列感应视电导率权系数计算方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811508745.3 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN109581517B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 刘智颖;刘瑞林;张柏桥;周云才;罗兵;关红梅 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司江汉油田分公司勘探开发研究院
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 李强
地址: 100020 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 阵列 感应 电导率 系数 计算方法 装置
【说明书】:

发明提供了一种阵列感应视电导率权系数计算方法及装置,涉及测井数据处理技术领域,该方法包括获取子线圈系视电导率的采样点深度值;根据采样点深度值构建视电导率的权系数线性方程组;从权系数线性方程组提取权系数的实部方程组和虚部方程组的系数矩阵;根据实部方程组计算权系数的实部;根据权系数的实部计算虚部方程组的常数项向量;根据常数项向量和系数矩阵构建权系数的虚部方程组;根据虚部方程组计算权系数的虚部;根据该实部和该虚部生成该子线圈系视电导率的权系数。本发明实施例提供的一种阵列感应视电导率权系数计算方法及装置,可以增加权系数计算的数值的稳定性、提高计算精度,并有效降低井壁附近的高频噪声。

技术领域

本发明涉及测井数据处理技术领域,尤其是涉及一种阵列感应视电导率权系数计算方法及装置。

背景技术

在测井解释过程中,往往需要研究阵列感应视电阻率的各向异性校正以及层界面校正的方法。

现有的权系数的计算方法包括两种,第一种为将目标几何因子和子线圈系几何因子离散化,以各子线圈系在不同的视电导率采样深度点的几何因子离散化的值作为系数矩阵的列向量,以目标几何因子离散化的值作为常数项向量,形成一个关于各子线圈系在不同的视电导率采样深度点的权系数的超定方程组,并通过求解该方程得出各子线圈系在不同的视电导率采样深度点的权系数。第二种为根据最小二乘法,利用寻优程序计算权系数,具体包括:以各子线圈系在不同的采样深度点的视电导率权系数作为自变量,将试探的几何因子与目标几何因子之差的2范数作为寻优函数,并利用共轭梯度法等非线性方程的求解方法求出当寻优函数达到全局极小值时各自变量的值。

目前,上述现有的计算阵列感应测井权系数的方法还存在数值稳定性不高、计算精度较差以及引起井壁附近的高频噪声较大的问题。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种阵列感应视电导率权系数计算方法及装置,可以增加权系数计算的数值的稳定性、提高计算精度,并有效降低井壁附近的高频噪声。

第一方面,本发明实施例提供了一种阵列感应视电导率权系数计算方法,包括:获取各子线圈系视电导率的采样点深度值;根据采样点深度值构建各个子线圈系视电导率的权系数线性方程组;从权系数线性方程组提取权系数的实部方程组和虚部方程组的系数矩阵;根据实部方程组计算权系数的实部;根据权系数的实部计算虚部方程组的常数项向量;根据常数项向量和系数矩阵构建权系数的虚部方程组;根据虚部方程组计算权系数的虚部;根据该实部和该虚部生成各个子线圈系视电导率的权系数。

结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,上述根据实部方程计算权系数的实部的步骤,包括:对该实部方程组的系数矩阵和常数项向量进行分块;根据分块的系数矩阵和常数项向量计算对应子线圈系的权系数的实部;根据该子线圈系的权系数的实部计算当前的总几何因子;计算该总几何因子与实部目标几何因子的差值;若该差值小于预设阈值,则对该权系数的实部进行归一化处理得到归一化的权系数的实部。

结合第一方面的第一种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,上述对该实部方程组的系数矩阵和常数项向量进行分块的步骤,包括:按照子线圈系视电导率的采样点个数,对该实部方程组的系数矩阵和常数项向量进行分块。

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