[发明专利]智能测试工位管理系统及其方法在审
申请号: | 201811510186.X | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN111311429A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 赵志广;柏源 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06Q50/04 | 分类号: | G06Q50/04;G06K17/00 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 南霆;程爽 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 智能 测试 管理 系统 及其 方法 | ||
本发明提供一种智能测试工位管理系统及其方法,所述系统包括监控模块、派位模块与处理模块。派位模块于接收每一待测机器的条码数据后,依据监控模块所输出的实时机架状态数据、同订单集中原则以及每一订单所对应的测试脚本对每一待测机器进行测试位置配置,并输出每一待测机器所对应的测试位置数据;以及当任一机架已满载时,处理模块依据监控模块所输出的实时工位状态数据、同订单集中原则以及已满载的机架所承载的该些待测机器所对应的该些测试脚本对已满载的机架进行测试工位配置,并输出已满载的机架所对应的测试工位数据。因此,可以提高生产效率。
技术领域
本发明涉及一种管理系统及其方法,特别是智能测试工位管理系统及其方法。
背景技术
在客制化生产(Configure to Order,CTO)的模式中,通常具有待测机型种类多、订单小、测试要求迥异等特色。
目前在组装线上完成组装的待测机器由操作人员随机寻找机架中未使用的测试位置进行测试位置配置,并于机架满载后随机寻找处于空缺状态的测试工位进行测试工位配置。然而通过上述随机进行测试位置配置,由于CTO模式的订单小容易产生属于同一订单的待测机器往往分散安排而造成下架时不便查找的问题。此外,通过上述随机进行测试位置配置与随机进行测试工位配置,由于CTO模式的待测机型种类多且测试要求迥异,容易产生将待测机器配置于不完全符合测试要求的测试位置与测试工位的问题。
综上所述,可知现有技术中存在因随机进行测试位置配置与随机进行测试工位配置而不适用于CTO模式的问题,因此实有必要提出改进的技术手段,来解决此问题。
发明内容
本发明提供一种智能测试工位管理系统及其方法。
首先,本发明提供一种智能测试工位管理系统,其包括:监控模块、派位模块与处理模块。其中,监控模块用以实时监控所有机架的承载状态与所有测试工位的使用状态,以输出实时机架状态数据与实时工位状态数据;派位模块用以接收每一待测机器的条码数据后,依据实时机架状态数据、同订单集中原则以及每一订单所对应的测试脚本对每一待测机器进行测试位置配置,并输出每一待测机器所对应的测试位置数据;处理模块用以当任一机架已满载时,依据实时工位状态数据、同订单集中原则以及已满载的机架所承载的该些待测机器所对应的该些测试脚本对已满载的机架进行测试工位配置,并输出已满载的机架所对应的测试工位数据。
此外,本发明提供一种智能测试工位管理方法,其步骤包括:提供智能测试工位管理系统,其包括监控模块、派位模块与处理模块;监控模块实时监控所有机架的承载状态,以输出实时机架状态数据;派位模块于接收每一待测机器的条码数据后,依据实时机架状态数据、同订单集中原则以及每一订单所对应的测试脚本对每一待测机器进行测试位置配置,并输出每一待测机器所对应的测试位置数据;监控模块实时监控所有测试工位的使用状态,以输出实时工位状态数据;以及当任一机架已满载时,处理模块依据实时工位状态数据、同订单集中原则以及已满载的机架所承载的该些待测机器所对应的该些测试脚本对已满载的机架进行测试工位配置,并输出已满载的机架所对应的测试工位数据。
本发明所提供的系统与方法如上,与现有技术的差异在于本发明是通过同实时机架状态数据、同订单集中原则以及每一订单所对应的测试脚本,实时地将每一待测机器对应配置于较为适合的机架中,并通过实时工位状态数据、同订单集中原则以及已满载的机架所承载的该些待测机器所对应的该些测试脚本,实时地将已满载的机架对应配置于较为适合的测试工位。
通过上述的技术手段,本发明可以提高生产效率。
附图说明
图1为本发明智能测试工位管理系统的实施例的系统方框图。
图2为图1的智能测试工位管理系统执行智能测试工位管理方法的实施例的方法流程图。
图3为本发明智能测试工位管理系统的另一实施例的系统方框图。
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