[发明专利]X射线透视摄影装置

说明书

本发明提供一种X射线透视摄影装置。在该X射线透视摄影装置中，图像处理部构成为：基于针对伪影延伸方向的列中包括的多个像素的平均差亮度值，来进行从X射线图像中去除带状伪影的图像处理，由此校正X射线图像。

技术领域

本发明涉及一种X射线透视摄影装置。

背景技术

以往，已知一种进行从X射线图像中去除带状伪影的图像处理的X射线透视摄影装置。例如，在日本特开2017-35204号公报中公开了这样的X射线透视摄影装置。

在日本特开2017-35204号公报中公开了一种X射线透视摄影装置，该X射线透视摄影装置具备：图像平均化单元，其对X射线图像中产生的带状伪影的延伸方向上的像素值进行平均来生成平均像素值分布；以及近似曲线生成单元，其计算对平均像素值分布进行近似的近似曲线。并且，日本特开2017-35204号公报的X射线透视摄影装置具备：差值计算单元，其计算平均像素值分布的值与近似曲线的差来作为差值；以及图像校正单元，其通过从X射线图像中的各个像素值减去差值(进行从X射线图像中去除带状伪影的图像处理)来校正X射线图像。

然而，在日本特开2017-35204号公报的X射线透视摄影装置中，基于平均像素值分布的值与对平均像素值分布进行近似所得的近似曲线之间的差值来校正X射线图像，因此认为在近似曲线的计算精度低的情况下存在不能充分地去除带状伪影的风险。因此，认为有时无法进行高精度地去除X射线图像中的带状伪影的校正。

发明内容

发明要解决的问题

本发明是为了解决上述那样的课题而完成的，本发明的一个目的在于提供一种能够进行高精度地去除X射线图像中的带状伪影的校正的X射线透视摄影装置。

为了达成上述目的，本发明中的一个侧面的X射线透视摄影装置具备：照射部，其向被检体照射X射线；检测部，其对照射到被检体的X射线进行检测；图像处理部，其基于由检测部检测出的X射线检测信号来生成X射线图像；以及运算部，其针对每个像素计算X射线图像间的亮度值的差、即差亮度值，并且针对X射线图像中产生的带状伪影延伸的伪影延伸方向的列中包括的多个像素，计算对X射线图像间的差亮度值进行平均而得到的平均差亮度值，其中，图像处理部构成为，基于平均差亮度值进行从所述X射线图像中去除所述带状伪影的图像处理，由此校正所述X射线图像。此外，带状伪影是指沿与由检测部检测出的X射线检测信号的读出方向正交的方向延伸的伪影。此外，带状伪影不限于以在读出方向上具有某程度的宽度的方式产生的带状伪影，而是也包括在读出方向上有一个像素的线状的伪影的广义概念。

在基于本发明的一个侧面的X射线透视摄影装置中，图像处理部如上述那样构成为，基于针对伪影延伸方向的列中包括的多个像素的平均差亮度值，进行从X射线图像中去除带状伪影的图像处理，由此校正X射线图像。由此，能够基于反映出由于以伪影延伸方向的列为单位产生的带状伪影引起的亮度值的变化的、实际的X射线图像间的平均差亮度值，来去除带状伪影。其结果，与使用近似曲线的情况不同的是，通过基于直接反映出由于带状伪影引起的亮度值的实际的变化量的值进行图像处理，能够进行高精度地去除X射线图像中的带状伪影的校正。

在基于上述一个侧面的X射线透视摄影装置中，优选图像处理部构成为，通过从X射线图像中的各像素的亮度值减去平均差亮度值，来校正X射线图像。如果像这样构成，则能够从X射线图像中的亮度值直接减去反映出由于带状伪影产生的X射线图像间的亮度值的变化量的平均差亮度值。其结果是，能够容易地进行高精度地去除X射线图像中的带状伪影的校正。

在基于上述一个侧面的X射线透视摄影装置中，优选图像处理部构成为，基于按伪影延伸方向的每个列进行平均所得的平均差亮度值，来校正X射线图像。如果像这样构成，则能够使伪影延伸方向上的进行平均的像素的数量最大化。其结果是，相比于基于对相对少的像素的数量进行平均所得的平均差亮度值来校正X射线图像的情况，能够抑制误差的影响，提高校正的精度。