[发明专利]一种超导薄膜压缩时临界电流密度和临界温度的测量装置

权利要求书

1.一种超导薄膜压缩时临界电流密度和临界温度的测量装置，其特征在于，包括真空箱、试验机压头、玻璃纤维板和超导薄膜样品施压夹具，所述真空箱的顶部插入试验机压头，试验机压头与真空箱接触的部位上套设波纹管，所述玻璃纤维板包括上玻璃纤维板和下玻璃纤维板，所述上玻璃纤维板设置于试验机压头的下方，所述下玻璃纤维板固定于真空箱底部，所述玻璃纤维板和超导薄膜样品施压夹具设置于真空箱中，所述上玻璃纤维板和下玻璃纤维板之间放置超导薄膜样品施压夹具，所述超导薄膜样品施压夹具包括上夹具、铍铜梁和下夹具，所述上夹具和下夹具分别夹持铍铜梁的顶面和底面，所述铍铜梁的顶面中间开有放置超导薄膜样品的凹槽，所述超导薄膜样品的上表面固定温度计和应变片；所述铍铜梁通过铜编带与设置于真空箱上的制冷机二级冷头连接，铍铜梁上设有加热电阻，所述真空箱上设有真空插座和真空阀；所述超导薄膜样品、温度计、应变片和加热电阻通过导线连接至真空插座上，所述真空插座与外部采集测试仪器相连。

2.如权利要求1所述的超导薄膜压缩时临界电流密度和临界温度的测量装置，其特征在于，所述上夹具的底面设置两个上夹头，所述下夹具的顶面设置两个下夹头，所述两个下夹头之间的距离大于所述两个上夹头之间的距离，所述两个上夹头之间的距离大于所述凹槽的宽度。

3.如权利要求2所述的超导薄膜压缩时临界电流密度和临界温度的测量装置，其特征在于，所述上夹头的横截面呈倒三角形，所述下夹头的横截面呈正三角形。

4.如权利要求1所述的超导薄膜压缩时临界电流密度和临界温度的测量装置，其特征在于，所述超导薄膜样品通过胶水固定于凹槽中，所述焊点与导线连接后再连接至真空插座上。