[发明专利]一种预防GIS设备温度过热的评估方法有效
申请号: | 201811514856.5 | 申请日: | 2018-12-12 |
公开(公告)号: | CN109459639B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 邓云坤;戴铭磊;彭晶;赵虎;李兴文;王达达;马仪;王科;张少泉;陈晓云 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01K13/00;G01J5/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 预防 gis 设备 温度 过热 评估 方法 | ||
1.一种预防GIS设备温度过热的评估方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤101:根据边界条件,利用耦合测温法,得到耦合测温矩阵;所述边界条件包括恒温边界条件、辐射边界条件和速度边界条件;
步骤102:根据预设波长λ1和λ2的辐射功率,利用红外测温法,得到红外测温矩阵;
步骤103:根据多个热敏传感器在GIS设备中的电子测量温度值,利用电子测温法,得到电测测温矩阵;
步骤104:将所述耦合测量温度矩阵、红外测量温度矩阵和电测测温矩阵合并,得到总温度矩阵;
步骤105:计算所述总温度矩阵的方差;
步骤106:若所述方差大于或等于预设阈值,则跳转至步骤107;若所述方差小于预设阈值,则跳转至步骤102;
步骤107:获取红外测温影响系数、电子测温影响系数和耦合测量影响系数;
步骤108:计算所述红外测温影响系数、电子测温影响系数和耦合测量影响系数的比值,得到判别矩阵;
步骤109:根据所述判别矩阵,计算得到检验系数;
步骤110:若所述检验系数大于或等于预设检验系数,则跳转至步骤111;若检验系数小于预设检验系数,则跳转至步骤107;
步骤111:根据所述判别矩阵,计算得到所述GIS设备的导体温度值;
步骤112:根据所述GIS设备的导体温度值,采取对应的预防策略。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据边界条件,利用耦合测温法,得到耦合测温矩阵;所述边界条件包括恒温边界条件、辐射边界条件和速度边界条件包括:
建立边界条件,所述边界条件包括恒温边界条件、辐射边界条件和速度边界条件;
对GIS设备的电磁场、流体场和温度场进行多场耦合;
根据所述边界条件,利用守恒方程进行耦合场计算,得到耦合测量温度值,所述守恒方程包括动量守恒方程、质量守恒方程和能量守恒方程;
根据耦合测量温度值,得到耦合测量温度矩阵和耦合温度均值。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设波长λ1和λ2的辐射功率,利用红外测温法,得到红外测温矩阵包括:
获取预设波长λ1和λ2的辐射功率;
根据λ1和λ2的辐射功率,利用比色测温法,得到红外测温温度值;
根据红外测量温度值,得到红外测量温度矩阵和红外温度均值。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据多个热敏传感器在所述GIS设备中的电子测量温度值,利用电子测温法,得到电测测温矩阵包括:
获取多个热敏传感器在所述GIS设备中的电子测量温度值;
根据电子测量温度值,得到电测测温矩阵和电子温度均值。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述判别矩阵,计算得到所述GIS设备的导体温度值包括:
根据所述判别矩阵,利用层次分析法,计算得到耦合测温法、红外测温法、电子测温法的权重值;
利用所述耦合测温法、红外测温法、电子测温法的权重值,计算得到所述GIS设备的导体温度值。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取红外测温影响系数、电子测温影响系数和耦合测量影响系数包括:
根据所述GIS设备的导体金属表面的发射率和传输介质对红外线吸收率,计算得到红外测温影响系数;
根据所述GIS设备内部电磁干扰的状态,确定电子测温影响系数;
根据所述边界条件与GIS设备所处环境,确定耦合测量影响系数。
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