[发明专利]聚合物基电介质材料及薄膜电容器有效

专利信息
申请号: 201811516279.3 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN111303567B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 于淑会;于均益;孙蓉 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: C08L27/16 分类号: C08L27/16;C08K3/30;H01G4/33;H01G4/18
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰;吕颖
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 聚合物 电介质 材料 薄膜 电容器
【权利要求书】:

1.一种聚合物基电介质材料,其特征在于,包括聚合物基体及均匀填充在所述聚合物基体中的电介质填料;所述电介质填料是由O原子替换ZnS晶体中的部分S原子形成等电子陷阱结构而获得,所述电介质填料的化学式为ZnS0.8O0.2或ZnS0.6O0.4;在所述聚合物基电介质材料中,所述电介质填料的体积百分数为2.53%。

2.根据权利要求1所述的聚合物基电介质材料,其特征在于,所述聚合物基体为热塑性材料或热固性材料。

3.一种薄膜电容器,其特征在于,包括相对设置的两层电极层、以及夹设于其间的电介质层;其中,所述电介质层的材料为如权利要求1-2任一所述的聚合物基电介质材料。

4.根据权利要求3所述的薄膜电容器,其特征在于,所述电极层的材料为铝、银、铜、金、镍、钛中的任意一种或至少两种形成的合金。

5.根据权利要求3所述的薄膜电容器,其特征在于,所述电介质层的厚度为1nm~100μm;所述薄膜电容器的电击穿强度不低于2000kV/cm,能量密度不低于3J/cm3

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