[发明专利]图像处理方法、生成式对抗网络系统和电子设备

权利要求书

1.一种图像处理方法，其特征在于，应用于生成式对抗网络GAN中，所述GAN包括生成网络，所述生成网络包括初始特征提取层、依次连接的M个下采样特征提取层、全局特征提取层、依次连接的M个上采样特征提取层和残差特征提取层，其中，M为大于等于1的整数；所述方法包括：

通过所述初始特征提取层对待处理图像进行第一处理，获得初始特征，其中，所述第一处理包括初始特征提取处理；

通过每个所述下采样特征提取层对输入到自身的输入特征进行第二处理，获得浅层特征、深度特征以及下采样特征，其中，第二处理包括浅层特征提取处理、深度特征提取处理以及下采样特征提取处理，与所述初始特征提取层连接的第一个所述下采样特征提取层的输入特征为所述初始特征，第二个至第M个所述下采样特征提取层的输入特征为自身的前一个所述下采样特征提取层输出的所述下采样特征；

通过所述全局特征提取层对第M个所述下采样特征提取层输出的下采样特征进行第三处理，获得全局特征，其中，所述第三处理包括全局特征提取处理；

通过每个所述上采样特征提取层对输入到自身的输入特征进行第四处理，获得上采样特征，其中，所述第四处理包括上采样特征提取处理，与所述全局特征提取层连接的第一个所述上采样特征提取层的输入特征包括：第一直连接特征和第一跨连接特征，所述第一直连接特征为第M个所述下采样特征提取层输出的下采样特征、深度特征和所述全局特征的第一串联特征，所述第一跨连接特征为第M个所述下采样特征提取层输出的浅层特征以及第M－1个所述下采样特征提取层输出的深度特征；第j个所述上采样特征提取层的输入特征包括：第j直连接特征和第j跨连接特征，所述第j直连接特征为自身的前一个所述上采样特征提取层输出的上采样特征，所述第j跨连接特征为第M－j+1个所述下采样特征提取层输出的浅层特征以及第M－j个所述下采样特征提取层输出的深度特征；第M个所述上采样特征提取层的输入特征包括：第M直连接特征和第M跨连接特征，所述第M直连接特征为第M－1个所述上采样特征提取层输出的上采样特征，所述第M跨连接特征为第一个所述下采样特征提取层输出的浅层特征，其中，j依次取2至M－1；

通过所述残差特征提取层对第M个所述上采样特征提取层输出的上采样特征进行第五处理，获得残差特征，其中，所述第五处理包括残差特征提取处理；

将所述残差特征和所述待处理图像相加得到目标图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过每个所述下采样特征提取层对输入到自身的输入特征进行第二处理，获得浅层特征、深度特征以及下采样特征，包括：

通过每个所述下采样特征提取层对输入到自身的输入特征依次进行第一卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，获得第一基本特征；

对所述第一基本特征依次进行第二卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，获得所述浅层特征；

对所述第一基本特征依次进行三次残差处理，获得第二基本特征；

对所述第二基本特征依次进行第三卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，得到转换特征，并对所述第二基本特征进行池化处理，将池化后得到的特征与所述转换特征串联得到所述下采样特征；

对所述第二基本特征依次进行第四卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，获得所述深度特征。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第一基本特征依次进行三次残差处理，获得第二基本特征，包括：

对所述第一基本特征依次进行第一卷积处理、归一化处理、第一非线性转换处理、第一卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，得到第三基本特征；

将所述第三基本特征与所述第一基本特征串联，得到第二串联特征；

对所述第二串联特征依次进行第一卷积处理、归一化处理、第一非线性转换处理、第一卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，得到第四基本特征；

将所述第二串联特征与所述第四基本特征串联，得到第三串联特征；

对所述第三串联特征依次进行第一卷积处理、归一化处理、第一非线性转换处理、第一卷积处理、归一化处理以及第一非线性转换处理，得到第五基本特征；

将所述第五基本特征与所述第三串联特征串联，获得所述第二基本特征。