[发明专利]一种光纤光栅波长解调系统在审
申请号: | 201811529281.4 | 申请日: | 2018-12-13 |
公开(公告)号: | CN109443405A | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 彭庆军;钱国超;古洪瑞;陈伟根;万福;马仪;程志万;周仿荣;邹德旭;黄星;洪志湖;刘光祺;颜冰 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353;G01D21/02 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体制冷片 光纤光栅波长 温度控制装置 解调系统 控制电路 依次连接 标准具 干涉 光源 光电检测器 数据采集卡 冷却风扇 环形器 耦合器 波长扫描激光器 恒定 三角波电压 动态标定 光纤光栅 外侧设置 电连接 波长 电源 驱动 计算机 申请 保证 | ||
本申请公开了一种光纤光栅波长解调系统,包括光源,光源为内周期三角波电压驱动的C波段波长扫描激光器,光源、耦合器、环形器与光纤光栅依次连接,环形器还与第一光电检测器、数据采集卡依次连接;耦合器还与干涉子系统、第二光电检测器、数据采集卡、计算机依次电连接;干涉子系统包括干涉本体和温度控制装置,温度控制装置包括半导体制冷片、控制电路和冷却风扇,干涉本体内设置有F‑P标准具、半导体制冷片和控制电路,半导体制冷片、控制电路与电源依次连接,干涉本体的外侧设置有冷却风扇。F‑P标准具可动态标定光纤光栅波长,且温度控制装置可保证F‑P标准具的温度趋于恒定,使其波长为常数,有效提高解调系统的精度与稳定性。
技术领域
本申请涉及光纤传感技术领域,尤其涉及一种基于线性插值的光纤光栅波长解调系统。
背景技术
光纤光栅传感技术是近年来的一个研究热点,与传统的传感器相比,光纤光栅传感器具有抗电磁干扰、灵敏度高、体积小等优点。对于特定的光纤光栅传感器,其波长变化与环境温度与压力存在对应关系。因此,为准确测量温度与压力,光纤光栅的波长解调技术十分重要。
现有的光纤光栅波长的解调系统为可调谐F-P滤波器解调系统。现有的可调谐F-P滤波器解调系统主要包括宽带光源、F-P滤波器、耦合器、光电检测器等装置。这种解调系统的工作原理是利用三角波电压驱动粘贴在F-P腔一侧的压电陶瓷,使其发生微小形变,导致F-P腔腔长变化,进而改变透过的中心波长。
但现有的这种解调系统由于其F-P滤波器的驱动电压和波长不成线性,容易影响波长解调的精度,使得其稳定性差。为了提高波长解调的精度,使其稳定性增强,提出了一种光纤光栅波长解调系统。
发明内容
本申请提供了一种光纤光栅波长解调系统,以解决现有系统中波长解调精度低的技术问题。
为了解决上述问题,本申请提供以下的技术方案:
一种光纤光栅波长解调系统,包括光源,光源为内周期三角波电压驱动的C波段波长扫描激光器,其中:光源与耦合器的第一端电连接,耦合器的第二端与环形器的第一端电连接,环形器的第二端与光纤光栅电连接,环形器的第三端与第一光电检测器的第一端电连接,第一光电检测器的第二端与数据采集卡的第一端电连接;耦合器的第三端与干涉子系统的第一端电连接,干涉子系统的第二端与第二光电检测器的第一端电连接,第二光电检测器的第二端与数据采集卡的第二端电连接,数据采集卡的第三端与计算机电连接;干涉子系统包括干涉本体和温度控制装置,温度控制装置包括半导体制冷片、控制电路和冷却风扇,干涉本体内设置有F-P标准具、半导体制冷片和控制电路,F-P标准具与半导体制冷片不连接,半导体制冷片与控制电路的第一端电连接,控制电路的第二端与电源电连接,干涉本体的外侧设置有冷却风扇。
可选地,干涉本体的外壳为金属壳。
可选地,耦合器的分光比为85:15。
一种光纤光栅波长解调系统的测试方法,其特征在于,测试方法包括:
耦合器将从光源处接收的光分为两份,并将这两份光分别传输给干涉子系统和环形器;
15%的光通过干涉子系统传输给第二光电检测器,85%的光通过环形器传输给光纤光栅;
光纤光栅的反射光传输给环形器,并通过环形器传输给第一光电检测器;
第一光电检测器和第二光电检测器分别将接收到的光转换为电信号;
电信号通过数据采集卡传输给计算机;
计算机根据线性插值算法计算光纤光栅的波长。
可选地,计算机根据线性插值算法计算光纤光栅的波长,包括:
根据标准查询F-P标准具的波长,计算机计算出光纤光栅和标准具谱峰的检测时间;
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