[发明专利]一种便携式吸波涂层厚度测量装置及方法

权利要求书

1.一种便携式吸波涂层厚度测量装置，包括：测试传感器(1)、扫频仪(2)和数控模块(3)，其中，扫频仪通过微波电缆(5、6)与测试传感器的耦合装置连接，数控模块通过信号线(4)与扫频仪连接；其特征在于，所述测试传感器由开放式同轴腔、弹簧顶针(11)、支撑套(12)和耦合装置(16)组成；所述开放式同轴腔为一端短路、一端开路结构，开路端采用渐变形式使其口径变小，耦合装置由短路端伸入腔内进行耦合；所述开放式同轴腔由内导体(13)、外导体(14)、填充介质(15)构成，其中，内导体固定于外导体内中心位置，且内导体与外导体之间设置填充介质；所述弹簧顶针一端固定在开放式同轴腔短路端外导体上，另一端与支撑套内壁接触并在弹力作用下将支撑套朝上顶、使得支撑套底端平面高于开放式同轴腔外导体开路端平面，开放式同轴腔的外导体外壁和支撑套内壁之间滑配接触。

2.基于权利要求1所述便携式吸波涂层厚度测量装置的吸波涂层厚度测量方法，包括以下步骤：

步骤1：制备标准样件，标准样件包括基底和涂覆在基底上的已知厚度的吸波涂层；标准样件的吸波涂层和待测涂层材料相同；标准样件的基底和待测涂层基底材料相同，厚度分两种情况：(1)若基底为良导体，则标准样件的基底厚度大于1mm；(2)若基底为非金属，则标准样件的基底厚度和待测涂层基底厚度相同；

步骤2：开放式同轴腔开路端加载涂层厚度为h₁的标准样件，测量品质因数Q₁；

步骤3：开放式同轴腔开路端加载涂层厚度为h₂的标准样件，测量品质因数Q₂；

步骤4：将已知标准样件的吸波涂层厚度h₁、h₂和测试的品质因数Q₁、Q₂，代入公式h＝a·exp(b·Q)中，计算得到系数a、b；

步骤5：开放式同轴腔开路端加载待测涂层，测量品质因数Q，并代入公式h＝a·exp(b·Q)中计算得到待测涂层的厚度h。