[发明专利]平面式场效应晶体管在审

专利信息
申请号: 201811531739.X 申请日: 2018-12-14
公开(公告)号: CN110010686A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: G.科茨洛夫斯基;A.迈泽 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/40;H01L29/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 臧永杰;申屠伟进
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 场效应晶体管 平面式 第一电极 漏极 第二电极 沟道区域 扩展区域 半导体本体 第一表面 电分离 连接端 栅电极
【权利要求书】:

1.一种平面式场效应晶体管(100),所述平面式场效应晶体管具有:

在半导体主体(112)的第一表面(106)上在沟道区域(104)和漏极连接端(D)之间的漏极扩展区域(102);

第一电极部分(108)和第二电极部分(110),所述第一电极部分和所述第二电极部分横向相互间隔开,其中,所述第一电极部分(108)作为栅电极布置在所述沟道区域(104)之上,并且所述第二电极部分(110)布置在所述漏极扩展区域(102)之上并且与所述第一电极部分(108)电分离。

2.根据权利要求1所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述第二电极部分(110)与源极连接端(S)电连接。

3.根据以上权利要求中任一项所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述平面式场效应晶体管(100)是横向的功率半导体器件,其中,体区域(120)和源极区域(118)电短接。

4.根据以上权利要求中任一项所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述漏极扩展区域(102)适合用于阻断在5V至200V范围内的漏极到源极电压。

5.根据以上权利要求中任一项所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述第一电极部分(108)和所述第二电极部分(110)是经结构化的电极层的不同部分。

6.根据以上权利要求中任一项所述的平面式场效应晶体管(100),所述平面式场效应晶体管此外具有:深的体区域(1203),所述深的体区域与所述源极连接端(S)电连接并且在所述漏极扩展区域(102)之下横向延伸,其中,所述深的体区域(1203)在第一横向方向(x1)上的延伸与所述漏极扩展区域(102)在所述第一横向方向(x1)上的延伸至少部分地重叠。

7.根据权利要求6所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述深的体区域(1203)在所述第一横向方向(x1)上的延伸与所述第二电极部分(110)在所述第一横向方向(x1)上的延伸至少部分地重叠。

8.根据权利要求6或7所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述深的体区域(1203)具有横向相邻的第一和第二部分体区域(1205,1206),并且,掺杂物剂量在横向更靠近所述漏极连接端(D)的第一部分体区域(1205)中比在所述第二部分体区域(1206)中更小。

9.根据以上权利要求中任一项所述的平面式场效应晶体管(100),所述平面式场效应晶体管此外具有:

在所述第一电极部分(108)和所述沟道区域(104)之间的栅极电介质(1141);以及

在所述第一电极部分(108)和所述漏极扩展区域(102)之间的另外的电介质(1042),其中,所述另外的电介质的厚度比所述栅极电介质(1041)的厚度更大,并且所述栅极电介质(1041)在所述漏极连接端(D)的方向上邻接所述另外的电介质。

10.根据权利要求9所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述另外的电介质具有STI电介质(1143)、浅沟槽绝缘电介质。

11.根据权利要求10所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述另外的电介质(1142)在所述STI电介质(1143)和所述栅极电介质(1141)之间此外具有平面式电介质(1147),所述平面式电介质比所述栅极电介质(1141)更厚并且在所述第一表面(106)上邻接所述漏极扩展区域(102)的一部分的上侧。

12.根据权利要求9所述的平面式场效应晶体管(100),其中,所述栅极电介质(1141)的一部分在所述第一表面(106)上邻接所述漏极扩展区域(102)的一部分的上侧。

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