[发明专利]基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统及方法有效
申请号: | 201811532461.8 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN109507198B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 张佳琳;刘遥峰;蒋振东;张衡;杨政 | 申请(专利权)人: | 航天科工智能机器人有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 | 代理人: | 韩德凯;李伟波 |
地址: | 100074 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 快速 傅里叶变换 线性 口罩 检测 系统 方法 | ||
1.基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统,其特征在于,包括:
图像采集装置,采集待测口罩的图像;
读取装置,读取采集的待测口罩图像,以及读取口罩模板文件和靶标标定参数;以及
检测装置,基于读取结果,检测待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍;
其中,所述检测装置通过快速傅里叶变换去除所述待测口罩图像上的背景压花纹理,基于去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息,所述检测装置通过线性高斯算法检测口罩表面污渍;
所述口罩表面污渍包括线状结构污渍;
所述检测装置检测所述口罩表面污渍的步骤包括:
检测组成所述线状结构污渍的点源;
连接所述点源;
测定所述线状结构的宽度;以及消除非对称线状结构的误差;
所述检测装置检测所述口罩排牙缺陷时,包括如下步骤:
通过阈值分割和连通域选择,获取所述口罩排牙的粗略位置,然后拟合所述口罩排牙的各个矩形的亚像素边界;
重新分割拟合后的所述口罩排牙的各个矩形的边界线,连接垂直方向的共线边界,使各个边界轮廓的等高线拼接在同一直线上。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,
所述检测装置包括滤波器;
所述滤波器用于消除所述背景压花纹理在频谱图中对应的频率峰值;
其中,所述频谱图为所述待测口罩图像经过快速傅里叶正向变换后得到。
3.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,还包括:
建模装置,用于创建口罩模板,基于所述口罩模板进行靶标标定,保存所述口罩模板文件;
所述口罩模板是指:除耳带以外的口罩矩形模板。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的检测系统,其特征在于,还包括:
评价装置,基于所述检测装置的检测结果,对所述待测口罩进行等级评价;以及
显示装置,显示所述检测装置的检测结果,以及显示所述评价装置的等级评价结果。
5.一种基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测方法,其特征在于,采用如权利要求1至4中任一项所述的检测系统,
所述检测方法包括以下步骤:
通过所述检测系统的图像采集装置采集待测口罩的图像;
通过所述检测系统的读取装置读取采集的待测口罩图像,口罩模板文件和靶标标定参数;以及
基于所述读取装置的读取结果,通过所述检测系统的检测装置检测待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍;
其中,检测口罩表面污渍的步骤包括:
所述检测装置根据快速傅里叶变换去除所述待测口罩图像上的背景压花纹理;基于去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息,所述检测装置根据线性高斯算法检测口罩表面污渍。
6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,通过快速傅里叶变换去除所述待测口罩图像上的背景压花纹理的步骤包括:
对所述待测口罩图像进行快速傅里叶正向变换获取频谱图;
在所述频谱图中检测所述背景压花纹理对应的频率峰值,消除所述频率峰值;
将消除频率峰值后的所述频谱图通过逆向快速傅里叶变换得到去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息。
7.根据权利要求5或6所述的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括以下步骤:
判断所述检测系统中是否存在口罩模板文件,如果不存在,则开始创建所述口罩模板文件;
其中,创建所述口罩模板文件的步骤包括:
读取标准的口罩图像;
基于所述标准的口罩图像,选取除耳带以外的口罩的矩形部分作为口罩模板;
基于所述口罩模板进行靶标标定;
保存口罩模板文件。
8.根据权利要求5或6所述的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括以下步骤:
基于待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍的检测结果,对所述待测口罩进行等级评价;以及
显示所述检测结果和所述等级评价结果。
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