[发明专利]测试系统、存储器的测试方法及测试装置

说明书

本公开提供一种测试系统、存储器的测试方法及测试装置，涉及半导体技术领域。该测试方法包括：根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个运行状态下能够执行的指令建立状态机；根据状态机的当前运行状态确定与当前运行状态对应的多个候选指令；确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；从各候选指令中随机选择一候选指令作为目标指令，并根据目标指令更新当前运行状态，直至运行时间达到预设值；根据所有目标指令生成一指令序列；确定指令序列中各目标指令在所有指令中的覆盖率；在覆盖率达到一阈值时，根据指令序列生成执行文件；通过测试机对存储器执行执行文件。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，具体而言，涉及一种测试系统、存储器的测试方法及存储器的测试装置。

背景技术

随着半导体技术的发展，存储器的性能逐渐提升。现有的存储器包括动态随机存取存储器(DRAM)、随机访问存储器(RAM)等。为了检测存储器的性能，通常需要对存储器进行测试，每个测试项目用于一个检测目的。

目前，在检测存储器时，需要根据需要检测的功能，人工书写测试项目，并根据书写的各个测试项目对存储器进行检测。但是，人工书写的测试项目的组合方式和数量是固定且有限的，而用户对存储器的各功能使用的组合方式是无限的且不固定，使得现有测试方式的效率较低，且测试项目的覆盖率较小，导致测试效果有待提高。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种测试系统、存储器的测试方法及存储器的测试装置，可提高测试效率和测试效果。

根据本公开的一个方面，提供一种存储器的测试方法，包括：

根据存储器的一存储块的多个运行状态和每个所述运行状态下能够执行的指令建立状态机；

根据所述状态机的当前运行状态确定与所述当前运行状态对应的多个候选指令；

确定当前时刻与一初始时刻间的运行时间；

从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，并根据所述目标指令更新当前运行状态，直至所述运行时间达到预设值；

根据所有所述目标指令生成一指令序列；

确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率；

在所述覆盖率达到一阈值时，根据所述指令序列生成执行文件；

通过测试机对所述存储器执行所述执行文件。

在本公开的一种示例性实施例中，从各所述候选指令中随机选择一所述候选指令作为目标指令，包括：

根据随机种子生成当前随机数；

根据所述当前随机数和预设的指令权重配置表从所述候选指令中选择一所述候选指令作为目标指令并为生成对应的随机地址。

在本公开的一种示例性实施例中，所述测试方法还包括：

控制所述目标指令符合预设时序。

在本公开的一种示例性实施例中，确定所述指令序列中各所述目标指令在所有所述指令中的覆盖率，包括：

确定从所述指令序列的所述目标指令中取出预设数量的目标指令的组合数，作为第一组合数，以及从所有所述指令中取出预设数量的指令的组合数，作为第二组合数；

确定所述第一组合数与所述第二组合数之比，作为所述覆盖率。

在本公开的一种示例性实施例中，所述测试方法还包括：

在所述覆盖率小于所述阈值时，重新生成指令序列。