[发明专利]一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法有效
| 申请号： | 201811542175.X | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN109506805B | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 程文祥;张朴;刘文中;程晶晶 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01K7/36 | 分类号： | G01K7/36 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 探测线圈 温度测量 磁化 磁纳米粒子 反向连接 两组 磁化强度变化 背景噪声 环境变化 环境磁场 激励磁场 纳米粒子 微小变化 微小信号 单线圈 扰动 测磁 放大 测量 参考 | ||
1.一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法，其特征在于，包括：
(1)取两份型号相同、重量一致的待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子，同时选取处于同一环境和同一初始温度T0下的待测点和参考点，并将所述待测磁纳米粒子放于所述待测点处，将所述参考磁纳米粒子放于所述参考点处；
(2)对所述待测点和参考点所在区域施加交流激励磁场H(t)；
(3)加热所述待测磁纳米粒子，使所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子之间产生温度差ΔT；
(4)采用两对相同的差分探测线圈分别感应所述待测磁纳米粒子和参考磁纳米粒子在所述激励磁场下的磁化强度信号，并将两对差分线圈反向连接从而获得所述磁化强度信号的差分信号ΔM；
(5)提取所述ΔM的一次谐波幅值信息ΔA；
(6)将所述ΔA代入预先拟合的一次谐波幅值变化量-温度变化量曲线中，求出ΔT，由于初始温度T0已知，从而得到所述待测磁纳米粒子经过加热后的温度。
2.根据权利要求1所述的一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法，其特征在于，所述步骤(2)中使用线圈对所述区域施加交流激励磁场。
3.根据权利要求1或2任一项所述的一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法，其特征在于，所述步骤(3)中使用激光方式小范围对所述待测磁纳米粒子进行加热。
4.根据权利要求1所述的一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法，其特征在于，所述步骤(4)中所述差分探测线圈由两个单线圈反向连接组成。
5.根据权利要求1所述的一种基于磁纳米粒子的双差分温度测量方法，其特征在于，在步骤(6)中，通过将所述ΔM经过前置放大器初步处理后输入数据采集卡，由计算机LabVIEW程序通过数字相敏检波算法处理后获得所述一次谐波幅值信息ΔA。
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