[发明专利]一种扫描成像系统成像效果优化方法在审

专利信息
申请号: 201811546050.4 申请日: 2018-12-18
公开(公告)号: CN111337226A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 周培涛 申请(专利权)人: 北京长峰科威光电技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京兆君联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11333 代理人: 初向庆
地址: 100195 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 扫描 成像 系统 效果 优化 方法
【说明书】:

一种扫描成像系统成像效果优化方法,采用CCD接收摆镜的反射光,得到一系列光斑信号,通过AD转换输出给CCD驱动电路,计算出每一个光斑的坐标信息;同时CCD通过光电编码器读取摆镜转动的角度信息,标定每个光斑中心所对应的角度值,输出到PC机将实测角度值与完全线性的理想角度值进行比较,得到实测角度值与理想角度值的差值,从而计算出摆镜的线性度;将固定转角信号用来作为线扫成像系统的曝光同步信号来同步成像系统,对系统成像效果进行优化。

技术领域

发明涉及光电技术领域,具体涉及一种扫描成像系统成像效果优化方法,主要应用于扫描成像系统摆镜线性度的测试及扫描成像系统的优化。

背景技术

目前常用的扫描成像系统摆镜线性度测试方法主要分为两大类,一类为通过电机内的反馈信号间接测试,一类是通过光学扫描反射的激光投影在标尺上进行测量。前者方法简单,但反馈信号反应的是电机的位置,不能直接反应出摆镜的线性度,尤其在摆镜距电机轴较远的区域,且精度有限。通过光学扫描反射的激光投影在标尺上进行测量的方法,可以直接、直观的反应摆镜的线性度,但标尺精度有限,且整个系统占用空间大,需要人工参与,测试不方便,且无法与整个系统构成闭环。

发明内容

本发明的目的在于一种扫描成像系统成像效果优化方法,利用光学扫描反射的激光在线阵CCD进行光电转换,在CCD驱动板AD转换后,在CCD驱动板的FPGA处理器上计算出光斑中心的位移,经过标定后可以得到摆镜旋转的精细角度,进而测得的扫描成像系统摆镜线性度。将固定转角信号用来作为线扫成像系统的曝光同步信号来同步成像系统,使系统成像效果得到明显优化。

本发明的技术方案如下:

一种扫描成像系统成像效果优化方法,其特征在于:

(1)采用摆镜、激光器、CCD、PC机组成摆镜线性度测试系统;摆镜与电机的输出轴一端连接,电机的输出轴另一端连接高精度光电编码器;

(2)电机带动摆镜转动,用激光器发射光源照射摆镜,采用CCD接收摆镜的反射光,得到一系列光斑信号,CCD将采集得到光斑信号转换为模拟电信号,通过AD转换后,输出给CCD驱动电路进行运算,计算出每一个光斑的坐标信息;同时CCD通过光电编码器读取摆镜转动的角度信息,CCD通过FPGA查表标定每个光斑中心所对应的实测角度值,然后将实测角度值通过串口角度信号输出到PC机;

(3)PC机将实测角度值与完全线性的理想角度值进行比较,得到实测角度值与理想角度值的差值,然后用该差值的绝对值除以理想角度值再乘以100%,从而得到摆镜的线性度;

(4)将固定转角信号用来作为线扫成像系统的曝光同步信号来同步成像系统,对系统成像效果进行优化。

本发明可以用来精密测试摆机的线性度,测量精度要比标尺测得的精度高很多,可以更精确的衡量摆镜的线性度,且该测试设备可以与扫描成像系统构成闭环,进而提高扫描成像系统的整体的成像效果。本发明可应用于所有使用摆镜的场合配合摆镜进行成像效果优化,不仅可以精确的测试出摆镜的线性度,而且可以将固定转角信号用来作为线扫成像系统的曝光同步信号来同步成像系统,使系统成像效果得到明显优化,避免了由于非线性带来的成像模糊和锯齿现象。

附图说明

图1是本发明的测试装置设置方式示意图;

图2是本发明的实现方式原理图。

具体实施方式

如图1所示,基于CCD的摆镜线性度测试方法采用的设备主要包括摆镜1、线阵图像传感器(CCD)2、激光器3以及PC机4。摆镜1与电机5的输出轴一端连接,电机5的输出轴另一端连接高精度光电编码器6。摆镜通过电机带动转动,同时采用激光器光源照射摆镜,采用CCD接收摆镜的反射光。

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