[发明专利]芯片定位装置及方法

说明书

本公开涉及一种芯片定位装置及方法，所述装置包括：级联的多个处理芯片；主控芯片，连接到多个处理芯片中的第一级处理芯片，被配置为：在接收到响应数据时，判断响应数据是否存在错误，其中，响应数据至少包括响应校验使能信息、校验结果信息、响应芯片标识信息、响应芯片地址信息、响应数据信息及响应校验码；在响应数据存在错误时，根据响应数据中的响应芯片标识信息和响应芯片地址信息，确定多个处理芯片中存在错误的芯片及芯片出错地址。本公开所述的芯片定位装置，可以在处理芯片发送的响应数据出错时，快速识别并定位存在错误的处理芯片，并确定存在错误的处理芯片的出错地址，以便对存在错误的处理芯片进行调试。

技术领域

本公开涉及电子技术领域，尤其涉及一种芯片定位装置及方法。

背景技术

随着电子技术及计算机技术的不断发展，单个处理芯片的运算能力越来越强，然而，在当今时代，单个处理芯片的运算能力还是无法满足日益增长的运算需求。在相关技术中，为满足运算需求，可以将多个处理芯片级联从而提高运算能力。当多个级联的处理芯片中的某个处理芯片出现错误后，需要快速识别出现错误的处理芯片，从而方便调试。

因此，急需提出一种对芯片进行定位的技术方案，以使得在级联芯片的某个芯片出现问题后，可以快速识别、定位出现错误的芯片，从而方便调试。

发明内容

有鉴于此，本公开提出了一种芯片定位装置及方法，以在级联芯片的某个芯片出现问题后，可以快速识别、定位出现错误的芯片，从而方便调试。

根据本公开的一方面，提供了一种芯片定位装置，所述装置包括：

级联的多个处理芯片；

主控芯片，连接到所述多个处理芯片中的第一级处理芯片，被配置为：

在接收到响应数据时，判断所述响应数据是否存在错误，其中，所述响应数据至少包括响应校验使能信息、校验结果信息、响应芯片标识信息、响应芯片地址信息、响应数据信息及响应校验码；

在所述响应数据存在错误时，根据所述响应数据中的响应芯片标识信息和响应芯片地址信息，确定所述多个处理芯片中存在错误的芯片及芯片出错地址。

在一种可能的实施方式中，在接收到响应数据时，判断所述响应数据是否存在错误，包括：

根据所述响应校验使能信息判断是否需要进行数据校验；

在不需要进行数据校验时，根据所述校验结果信息判断所述响应数据是否存在错误；

在所述校验结果信息为校验错误时，确定所述响应数据存在错误。

在一种可能的实施方式中，在接收到响应数据时，判断所述响应数据是否存在错误，还包括：

在需要进行数据校验时，根据所述响应数据信息及所述响应校验码进行数据校验，得到第一校验结果；

在所述第一校验结果为校验错误时，确定所述响应数据存在错误。

在一种可能的实施方式中，所述主控芯片还被配置为：

发送控制数据，所述控制数据包括操作类别信息、控制校验使能信息、控制芯片标识信息、控制芯片地址信息、控制数据信息及控制校验码，

其中，所述控制校验使能信息用于指示所述控制校验码是否有效。

在一种可能的实施方式中，所述多个处理芯片中的目标处理芯片被配置为：

在接收到来自所述主控芯片或前一级处理芯片的控制数据时，判断所述控制数据中的控制芯片标识信息与所述目标处理芯片的标识信息是否一致；

在控制芯片标识信息与所述目标处理芯片的标识信息一致时，根据所述控制数据中的操作类别信息确定操作类别；