[发明专利]一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法在审
申请号: | 201811550099.7 | 申请日: | 2018-12-18 |
公开(公告)号: | CN109632794A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 张松;高洪雷;田明明;李平;孔维豪 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 闫兆梅 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金矿物 金矿 低品位 电子探针 矿产勘查 矿化样品 金元素 采样 矿物 显微镜 制备 查找 分析 | ||
1.一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤(1)、矿化样品的系统采样与分析;步骤(2)、镜下鉴定样品的制备;步骤(3)、显微镜下查找金矿物并初步确定含金的矿物种类;步骤(4)、电子探针确定金矿物的确切名称及金赋存状态。
2.根据权利要求1所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:所述步骤(1)具体包括如下步骤:借助化学分析的方法来判断低品位样品中金含量相对较高的样品;在完成样品的化学分析后,将这些样品按照金含量的高低进行排序,筛选出金含量相对较高的样品。
3.根据权利要求2所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:选择金含量大于0.1g/t的样品进行切片。
4.根据权利要求2所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:所述步骤(2)的具体步骤包括:将之前筛选出的金含量相对较高的样品进行切片,成镜下观察样品的制备。
5.根据权利要求4所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:所述步骤(3)中,完成样品的制备后,在开始镜下观察,查找金矿物的过程中应该注意以下几个技术要点:一是要在反射光下进行查找;二是注意查找高反射率的样品;三是要注意观察样品中的金属硫化物,金通常与金属硫化物共生;四是要在中倍镜和高倍镜下查找,一般选择200倍和500倍的放大倍数。
6.根据权利要求5所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:反射率高的样品指自然金及其他含金矿物。
7.根据权利要求5所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:镜下完成金矿物的初步查找后,参考金属矿物鉴定手册,对反射率高、金黄色的矿物进行初步定名,确定矿物种类。
8.根据权利要求7所述的一种适用于低品位金矿化区内金赋存状态的综合鉴定方法,其特征在于:所述步骤(4)的具体步骤包括:除对特征的金矿物进行半定量分析外,对一些常与金共生的矿物也需要进行半定量分析。
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