[发明专利]一种质谱仪质量分析器的装调装置及其装调方法

说明书

本发明提供了一种质谱仪质量分析器的装调装置及其装调方法，包括装调平台，所述装调平台顶部固定安装前轨道支撑座和所述后轨道支撑座，所述前轨道支撑座、所述后轨道支撑座之间固定安装三重四极杆质量分析器的轨道，所述装调平台上放置所述平尺，平尺位于所述轨道的一侧，微量进给座螺纹连接至微量进给螺钉，微量进给螺钉顶部与所述三重四极杆质量分析器的支撑锥销底部相接触，并从底部顶住支撑锥销，所述微量进给螺钉底部可通过所述扳手调节。本发明所述的质谱仪质量分析器的装调装置及其装调方法，有效解决MS1质量分析器、碰撞反应池、MS2质量分析器三者的高精度装调问题，实现了三者同轴度，大大提高了质量分析器的灵敏度。

技术领域

本发明属于质量分析仪器技术领域，尤其是涉及一种质谱仪质量分析器的装调装置及其装调方法。

背景技术

质谱仪用于测量各种原子、离子、分子的质荷比，并根据其带电情况得到其相对分子质量。质谱仪根据其质量分析器的类型不同，分为四极杆质谱仪、飞行时间质谱仪、磁质谱仪、傅里叶变换离子回旋共振质谱仪、离子阱质谱仪、静电场轨道阱质谱仪等。四极杆质量分析器最早由沃尔夫冈·保罗教授提出。保罗教授于1989年获得诺贝尔物理学奖。三重四极杆质谱技术是最典型的串联质谱技术,在一级质谱(MS)条件下获得较强的待测物的准分子离子峰后，对准分子离子进行碰撞裂解，由串级质谱(MS/MS)获得更加丰富的化合物碎片信息，以判断化合物结构，从而实现对目标化合物的定性定量分析。在质谱应用领域，三重四极杆质谱仪被公认为最灵敏和定量重现性最好的仪器。

三重四极杆质量分析器是三重四极杆质谱仪的关键部件。三重四极杆质量分析器包含MS1质量分析器、碰撞反应池、MS2质量分析器和离子检测器等部分组成。其中，MS1质量分析器、碰撞反应池和MS2质量分析器三者的装配精度对离子流传输效率有重要影响，从而直接影响仪器的灵敏度。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提出一种质谱仪质量分析器的装调装置，以解决MS1质量分析器、碰撞反应池、MS2质量分析器三者的高精度装调问题，实现三者同轴度。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种质谱仪质量分析器的装调装置，包括装调平台、大理石平尺、前轨道支撑座、后轨道支撑座、微量进给座、微量进给座固定螺钉、微量进给螺钉和扳手，所述装调平台顶部固定安装前轨道支撑座和所述后轨道支撑座，所述前轨道支撑座、所述后轨道支撑座之间固定安装三重四极杆质量分析器的轨道，所述装调平台上放置所述平尺，所述平尺位于所述轨道的一侧，所述微量进给座固定安装在所述轨道上，并通过微量进给座固定螺钉压紧固定，所述轨道顶部用于放置三重四极杆质量分析器的MS1质量分析器、碰撞反应池和MS2质量分析器，所述微量进给座螺纹连接至微量进给螺钉，所述微量进给螺钉顶部与所述三重四极杆质量分析器的支撑锥销底部相接触，并从底部顶住支撑锥销，所述微量进给螺钉底部可通过所述扳手调节。

进一步的，所述平尺为大理石平尺。

进一步的，所述扳手为内六角扳手。

进一步的，所述第一轨道与所述平尺支架的距离大于所述第二轨道与所述平尺之间的距离。

进一步的，所述支撑锥销包括第一支撑锥销和第二支撑锥销，所述支撑环底部一侧安装所述第一支撑锥销，另一侧安装所述第二支撑锥销，所述第一轨道与第一支撑锥销接触，所述第二轨道与所述第二支撑锥销接触。

相对于现有技术，本发明所述的质谱仪质量分析器的装调装置具有以下优势：

(1)本发明所述的质谱仪质量分析器的装调装置，有效解决MS1质量分析器、碰撞反应池、MS2质量分析器三者的高精度装调问题，实现了三者同轴度，大大提高了质量分析器的灵敏度。