[发明专利]一种沿深度非均匀分布的残余应力测试计算方法有效

专利信息
申请号: 201811554143.1 申请日: 2018-12-19
公开(公告)号: CN109460632B 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 潘龙;王保升;徐振钦;闫注文 申请(专利权)人: 南京工程学院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/14
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 张耀文
地址: 211167 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 深度 均匀分布 残余 应力 测试 计算方法
【权利要求书】:

1.一种沿深度非均匀分布的残余应力测试计算方法,其特征在于,包括:钻孔应变法测量残余应力过程中,钻孔切除部分与工件基体分离,导致孔表面处的作用力释放,引起测量位置PN的应变,其中N=1、2、3,对应应变花中应变片的编号;根据弹性力学可逆性原理,在孔的表面施加原作用力,即切除部分与工件基体间的作用力,与钻孔应力释放过程是可逆的,据此采用Cerruti力学问题的解,建立钻孔位置残余应力与测量位置应变之间的映射关系,从而根据测量的应变值求解钻孔位置残余应力;

具体包括以下步骤:

(1)建立钻孔位置残余应力与孔表面微元作用力的关系:第k层钻孔位置的残余应力为每层孔厚度为Δz,孔半径为a,则孔表面Q(x1,y1,z1)点处微面元ds的原有微元作用力为,

式中,下标i、j是应力张量的角标符号,分别取X、Y代表直角坐标系X、Y轴方向,nj是面元的单位法向量;直角坐标系下的分量形式为:

式中,α是孔表面Q点与原点O的连线同X轴的夹角;

(2)利用Cerruti力学问题的解建立第k层孔表面微元作用力在测量位置PN点产生应力的关系;孔表面微元作用力在距离为R的测量位置PN(x2,y2,z2)处产生的应力分量表达式为,

孔表面微元作用力在距离为R的测量位置PN(x2,y2,z2)处产生的应力分量表达式为,

式中,x=x2-x1,y=y2-y1,z=z2-z1,公式(3)与公式(4)中相同应力相加,得到第k层孔表面微元作用力dFik在测量位置PN处产生的应力分量表达式;

(3)通过积分求得第k层孔表面施加原作用力Fik后,测量位置PN处产生的应力为即

矩阵形式为:

式中,为第k层孔应力在PN处产生应力的应力传递矩阵,由上述公式得到的表达式为:

(4)第k层孔表面施加原作用力后PN处的应变值与应力的关系为

式中,v是泊松比,E是弹性模量,αN为PN点与原点O的连线同X轴的夹角,且由公式(8)得到与关系,矩阵形式为

式中,是常数矩阵,为第k层孔的挠度传递矩阵,其表达式为:

(5)通过钻孔过程测量的应变值计算得到第k层孔表面加载过程测量位置PN产生的应变值,即

式中,是第k层孔钻完后PN点测量的应变值;

(6)通过挠度传递矩阵求逆得到第k层孔的刚度传递矩阵从而计算得到第k层孔位置的残余应力表达式为:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京工程学院,未经南京工程学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811554143.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top