[发明专利]半导体装置和操作半导体装置的方法在审
申请号: | 201811554225.6 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN110022153A | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 俞元植;金友石;金志炫;金泰翼 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18;H03L7/099 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张川绪;姜长星 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数字信号 半导体装置 参考频率信号 反馈频率信号 最终测试信号 乘法系数 振荡信号 输出 数字环路滤波器 乘法器电路 时间转换器 数控振荡器 乘法运算 环路增益 生成测试 使用测试 输出指示 时间差 校准器 滤波 | ||
1.一种半导体装置,包括:
时间-数字转换器TDC,被配置为
接收参考频率信号和反馈频率信号,
输出指示参考频率信号与反馈频率信号之间的时间差的第一数字信号;
数字环路滤波器DLF,被配置为输出通过对第一数字信号进行滤波生成的第二数字信号;
乘法器电路,被配置为输出第三数字信号和最终测试信号中的一个,第三数字信号通过使用乘法系数对第二数字信号执行乘法运算被生成;
数控振荡器DCO,被配置为基于第三数字信号和最终测试信号中的输出的所述一个来生成具有振荡信号频率的振荡信号;
环路增益校准器LGC,被配置为
接收振荡信号,
生成测试信号对,
使用测试信号对确定乘法系数。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
测试信号对包括:第一测试信号和第二测试信号,
第一测试信号的频率比振荡信号频率低出第一频率那么多,
第二测试信号的频率比振荡信号频率高出第一频率那么多。
3.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,乘法器电路包括:多路复用器,被配置为输出第三数字信号和最终测试信号中的所述一个到DCO,最终测试信号从测试信号对被生成。
4.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
LGC还被配置为接收第一参数和第二参数,第一参数用于确定测试信号对的频率,第二参数用于确定测试信号对的输出持续时间,
LGC包括:控制器,被配置为将最终测试信号输出到乘法器电路,最终测试信号基于第一参数和第二参数被生成。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,LGC包括:
计数器,被配置为:
接收振荡信号,
生成测试信号对;
补偿因子计算器CFC,被配置为:
接收测试信号对,
生成用于设置乘法系数的乘法系数设置信号。
6.根据权利要求5所述的半导体装置,其中,CFC还被配置为:
接收用于确定振荡信号频率与DCO的增益的比率的第三参数和第一分频比率,
基于第三参数和第一分频比率生成乘法系数设置信号。
7.根据权利要求1所述的半导体装置,还包括:
自动频率校准器AFC,被配置为使用二分查找算法来校准振荡信号频率。
8.根据权利要求1所述的半导体装置,还包括:
控制器,被配置为:
接收第一参数和第二参数,第一参数用于确定测试信号对的频率,
第二参数用于确定测试信号对的输出持续时间,
输出基于第一参数和第二参数生成的最终测试信号。
9.一种半导体装置,包括:
时间-数字转换器TDC,被配置为:
接收参考频率信号和反馈频率信号,
输出指示参考频率信号与反馈频率信号之间的时间差的第一数字信号;
数字环路滤波器DLF,被配置为输出通过对第一数字信号进行滤波生成的第二数字信号;
乘法器电路,包括:
乘法器,被配置为通过使用乘法系数对第二数字信号执行乘法运算来生成第三数字信号,
多路复用器,被配置为选择性地将第三数字信号和最终测试信号中的一个输出到数控振荡器DCO;
DCO,被配置为基于第三数字信号和最终测试信号中的输出的所述一个来生成具有振荡信号频率的振荡信号;
环路增益校准器LGC,被配置为:
接收振荡信号,
生成测试信号对,
使用测试信号对确定最终测试信号。
10.根据权利要求9所述的半导体装置,其中,
测试信号对包括第一测试信号和第二测试信号,
第一测试信号的频率比振荡信号频率低出第一频率那么多,
第二测试信号的频率比振荡信号频率高出第一频率那么多。
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