[发明专利]兼容eMMC协议和SD协议的存储器测试装置及方法

权利要求书

1.一种兼容eMMC协议和SD协议的存储器测试装置，其特征在于，包括测试主机及测试从机，所述测试主机与测试从机相连接，所述测试主机包括，主控制器、eMMC和SD协议通用连接器及供电电路；所述测试从机包括eMMC测试子板及SD测试子板；其中，

所述eMMC和SD协议通用连接器提供基于上述两种协议的存储器连接到所述主控制器及测试从机的连接接口；

所述主控制器与eMMC和SD协议通用连接器及供电电路连接；

所述eMMC测试子板及SD测试子板与所述eMMC和SD协议通用连接器连接；并且，

所述测试主机通过将SD存储器连接器中的一个接地VSS端口修改为DS端口，所述DS端口用于eMMC存储器的DS信号的收发。

2.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述测试主机还包括可控接地模块，所述可控接地模块同时连接所述主控制器的DS端口及所述eMMC和SD协议通用连接器的DS端口。

3.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述存储器测试装置支持的存储协议至少包括以下协议中的一种：eMMC 4.3、eMMC 4.4、eMMC 4.5、eMMC 5.0、eMMC 5.1、MMC及SD。

4.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述供电电路还包括电压转换模块，所述电压转换模块能够将输出电压在3.3V和1.8V两个值之间转换。

5.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述存储器测试装置所测试的eMMC协议存储器的速度模式至少包括以下模式中的一种：低速兼容模式、HS-SDR、HS-DDR、HS200及HS400。

6.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其特征在于，所述存储器测试装置所测试的SD协议存储器的速度模式至少包括以下模式中的一种：DS、HS、SDRl2、SDR25、SDR50、SDR104及DDR50。

7.一种兼容eMMC协议和SD协议的存储器测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S100)将SD存储器连接器中的一个接地VSS端口修改为DS端口，得到eMMC和SD协议通用连接器，并将可控接地模块同时连接主控制器的DS端口及所述eMMC和SD协议通用连接器的DS端口，并使用具有电压转换模块的电源进行供电；

S200)将待测的eMMC协议或SD协议的存储器分别连接于eMMC测试子板或SD测试子板，获取待测存储器的传输速度，按照传输速度与供电电压的对应关系，从3.3V和1.8V两种供电电压中，选择一种向待测存储器进行供电；

S300)获取eMMC测试子板或SD测试子板的输出信号；

其中，所述电压转换模块能够将输出电压在3.3V和1.8V两个值之间转换。

8.根据权利要求7所述的存储器测试方法，其特征在于，若待测存储器为SD协议的存储器，则步骤S200还包括以下子步骤：

判断待测SD协议存储器中的VSS1引脚和VSS2引脚是互相连接的还是互相独立的，若VSS1引脚和VSS2引脚是互相连接的，则将主控制器中的DS端口的电压下拉接地；若VSS1引脚和VSS2引脚是互相独立并同时接地，则启动可控接地模块，并将SD协议存储器中的VSS1引脚通过eMMC和SD协议通用连接器和可控接地模块接地。

9.一种使用兼容eMMC协议和SD协议的存储器测试方法的存储器测试装置，其特征在于，包括测试主机及测试从机，所述测试主机与测试从机相连接，所述测试主机包括，主控制器、eMMC和SD协议通用连接器及供电电路；所述测试从机包括eMMC测试子板及SD测试子板；其中，

所述eMMC和SD协议通用连接器能够同时兼容eMMC和SD协议并提供将使用上述两种协议的存储器连接到所述主控制器及测试从机的连接接口；

所述主控制器与eMMC和SD协议通用连接器及供电电路连接；

所述eMMC测试子板及SD测试子板与所述eMMC和SD协议通用连接器连接；

其中，所述使用兼容eMMC协议和SD协议的存储器测试方法的存储器测试装置还包括控制器，所述控制器用于执行如权利要求7或8所述的方法。