[发明专利]显示屏内部升温测量方法

说明书

本发明公开了一种显示屏内部升温测量方法，包括：第一步骤：在显示屏内设置热敏电阻；第二步骤：获取热敏电阻的特性曲线，所述特性曲线是表示热敏电阻的电阻值随着温度变化而变化的关系曲线；第三步骤：持续检测热敏电阻的电阻值；第四步骤：根据检测到的热敏电阻的电阻值来判断显示屏内部的升温状态。根据本发明的显示屏内部升温测量方法能够根据热敏电阻的变化来判断显示屏内的温升，由此能够改善升温测量操作便利性以及升温测量的精确性，而且可以进一步根据升温检测判断产品是否合格，由此增加出货的合格率，延长显示屏成品的使用周期。

技术领域

本发明涉及显示器测试领域，尤其涉及一种显示屏内部升温测量方法。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)模组背光有些需要很大的驱动能力。然而，诸如LED(Light-Emitting Diode，发光二极管)灯串之类的LCD背光元件的效率达不到100％，会有少部分转化热能的形式到屏内；这样，随着显示屏开机时间的持续，显示屏内的温度会上升。

经验表明，显示屏内的元器件的温升每升高10摄氏度，显示屏内的元器件的寿命将缩短一半。而显示屏内存在着大量的集成电路芯片，所以屏温升的测试是LCD模组一个重要的性能指标，屏内温度检测是非常重要。

在现有技术中，屏内温度检测的手段比较复杂，不便于操作人员的操作便利性，而且测量精确性不高。

因此，本领域的技术人员致力于开发一种能够改善操作便利性以及测量精确性的显示屏内部升温测量方法。

发明内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种能够改善测量操作便利性以及测量精确性的显示屏内部升温测量方法。

为实现上述目的，本发明提供了一种显示屏内部升温测量方法，包括：

第一步骤：在显示屏内设置热敏电阻；

第二步骤：获取热敏电阻的特性曲线，所述特性曲线是表示热敏电阻的电阻值随着温度变化而变化的关系曲线；

第三步骤：持续检测热敏电阻的电阻值；

第四步骤：根据检测到的热敏电阻的电阻值来判断显示屏内部的升温状态。

优选地，所述热敏电阻是负温度系数热敏电阻。

优选地，第一步骤以热敏电阻作为显示屏内的电路的元件的方式在显示屏内设置热敏电阻。

优选地，第二步骤通过实验测量来获取热敏电阻的特性曲线。

优选地，第三步骤以持续地以固定时间间隔的方式对热敏电阻的电阻值进行采样的方式检测热敏电阻的电阻值。

优选地，在第四步骤中，根据检测到的热敏电阻的电阻值是否超过预定电阻范围来判断显示屏内部的温度是否升高到超过预定温度范围。

优选地，在第四步骤中，根据检测到的热敏电阻的电阻值在预定时间段内的变化幅度来判断显示屏内部的升温是否超过预定升温速度。

优选地，所述显示屏内部升温测量方法用于检测液晶显示屏的内部升温测量。

根据本发明的显示屏内部升温测量方法能够根据热敏电阻的变化来判断显示屏内的温升，由此能够改善升温测量操作便利性以及升温测量的精确性，而且可以进一步根据升温检测判断产品是否合格，由此增加出货的合格率，延长显示屏成品的使用周期。

以下将结合附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本发明的目的、特征和效果。

附图说明

结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本发明有更完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：