[发明专利]一种数字单元测试仪的校准系统有效
申请号: | 201811558169.3 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN109901089B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 王兵;高翌春;张鹏程;刘晓旭;印朝辉;张修建;张铁犁 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京国之大铭知识产权代理事务所(普通合伙) 11565 | 代理人: | 李卉 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数字 单元 测试仪 校准 系统 | ||
1.一种数字单元测试仪的校准系统,其特征在于,包括总线测控主机、电学标准源、信号适配箱、标准电阻箱和安全机构等效器,且所述总线测控主机包括总线控制器模块、数字多用表模块、示波器模块和数据通信模块;
所述总线控制器模块通过所述数据通信模块控制电学标准源和所述信号适配箱按校准流程要求执行相应的动作,并通过所述数字多用表模块或所述示波器模块按校准流程要求采集相应的电压电流数据或采集波形测量相应转换点之间的时间,控制所述电学标准源输出高阻的同时,控制所述信号适配箱实现对所述数字单元测试仪各通道绝缘电阻的校准;
所述数字多用表模块实现对所述数字单元测试仪各通道测试电流的校准;
所述示波器模块实现对所述数字单元测试仪各通道加电时间和状态转换时间的校准;
所述数据通信模块具备多个通信接口,实现所述总线控制器模块对所述信号适配箱的数据交互和驱动控制;
所述标准电阻箱实现对所述数字单元测试仪各通道接触电阻和线圈电阻的校准;
所述安全机构等效器为所述数字单元测试仪的校准提供等效负载;
当进行所述数字单元测试仪各通道接触电阻、线圈电阻及测试电流的校准时,将所述数字单元测试仪的测试插座与所述标准电阻箱的两接线柱连接,同时将所述标准电阻箱的两接线柱与所述数字多用表模块的电压测量端连接;所述数字单元测试仪各通道接触电阻和线圈电阻的校准是按校核流程要求调节所述标准电阻箱输出不同校准点的电阻值,然后通过所述数字多用表模块逐项完成所述数字单元测试各通道接触电阻和线圈电阻的校准;所述数字单元测试仪各通道测试电流的校准是由所述数字多用表模块测量所述标准电阻箱的两接线柱之间电压,然后通过计算实现所述数字单元测试各通道测试电流的校准;
当进行所述数字单元测试仪各通道绝缘电阻、加电时间及状态转换时间的校准时,所述数据通信模块分别与所述电学标准源和信号适配箱的输入端连接,所述安全机构等效器、示波器模块及电学标准源的输出端均与所述信号适配箱的输入端连接,所述信号适配箱的输出端与所述数字单元测试仪的测试插座连接,所述数字单元测试仪各通道的信号切换均由所述信号适配箱内部的切换电路来实现;所述数字多用表模块的电压测量端与所述数字单元测试仪的接线柱连接;所述数字单元测试仪各通道绝缘电阻的校准是通过所述总线测控器模块控制所述电学标准源输出不同校准点的电阻并控制所述信号适配箱进行通道切换后将输出电阻送至所述数字单元测试仪各通道,实现所述数字单元测试仪各通道绝缘电阻的自动校准;所述数字单元测试仪各通道加电时间的校准是在所述数字单元测试仪开始执行状态转换时通过所述示波器模块自动测量加电时间实际值T1实,所述数字单元测试仪的窗口显示值为加电时间示值T1示,并重复进行多次测试,然后从全部测试数据中选出加电时间示值T1示与加电时间实际值T1实相差最大的一点,即为加电时间的误差校准结果δT1;所述数字单元测试仪各通道状态转换时间的校准是在所述数字单元测试仪开始执行状态转换时通过所述示波器模块自动测量到200ms控制加电脉冲及工作开关波形的下降沿后,停止测量;然后由所述总线控制器模块自动计算控制加电脉冲的上升沿与工作开关波形的第一个下降沿之间的时间间隔,此时间间隔即为状态转换时间实际值T2实;所述数字单元测试仪的窗口显示值为状态转换时间示值T2示,状态转换时间示值T2示与状态转换时间实际值T2实的差值即为状态转换时间绝对误差δT2。
2.根据权利要求1所述的校准系统,其特征在于,所述总线测控主机还包括总线机箱,且所述总线控制器模块、数字多用表模块、示波器模块和数据通信模块均为总线式板卡,各模块插入所述总线机箱构成便携式的总线测控主机。
3.根据权利要求1所述的校准系统,其特征在于,总线为PXI总线、PXIe总线、CPCI总线和VXI总线中的任意一种。
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