[发明专利]一种滤饼刮料系统

说明书

一种滤饼刮料系统，包括刮取装置1、位置调节装置2、检测装置3、控制装置4，所述刮取装置1用于刮取滤饼；所述位置调节装置2与所述刮取装置1连接，用于调节所述刮取装置1的位置；所述检测装置3，用于检测滤饼的性质得到检测结果；所述控制装置4分别与所述检测装置3、位置调节装置2连接，用于根据所述检测装置3的检测结果，控制所述位置调节装置2。本发明实现了刮料过程的可控化，根据滤饼的性质，调整刮取设备的位置减少了过滤物料对滤网的直接冲击、细颗粒物料的穿滤、刮取设备与滤网的接触次数，避免刮取设备与滤网的损伤；通过检测卸料层的含湿率，调整刮取设备对滤饼整体进行刮取，保证滤饼含湿率和过滤效率处于稳定状态。

技术领域

本发明总体涉及包装领域，更具体地，涉及一种滤饼刮料系统。

背景技术

目前，离心固液分离设备在固液分离过程中，物料都是直接到达滤网，在滤网进行脱液处理后，形成滤饼，再由刮板刮出滤饼，基本是一次脱液一次刮料。刮料时，是将所有滤饼沿滤网一次性刮出。离心机在过滤时，转鼓高速运转，刮板是收起状态，当过滤完毕，转鼓转变为低速旋转时，调节刮板靠近转鼓壁，将物料刮取下来。在这种工艺过程中，每次进行新批次的物料过滤时，被过滤的物料对滤网形成直接的冲击，而且冲击较大，滤网的磨损较快，降低了滤网的使用寿命。

在过滤初期，滤网上没有形成滤饼时，粒径小于滤网孔径的物料会大量穿滤，降低固体物料收率。随着过滤作业的进行，物料中的细颗粒逐渐积累，会对脱液效果产生影响，造成滤饼中含湿率升高。在过滤结束后，刮板刮取滤饼时，刮板与滤网接触的位置会造成滤网和刮板的磨损，影响刮板和滤网的使用寿命。

现有技术中存在的问题是，过滤过程中各批次过滤物料对滤网的直接冲击较大；过滤初期粒径小的物料颗粒会穿滤；过滤后期细颗粒物料会造成过滤结构堵塞，造成滤饼含湿率升高；过滤的过程不可控，滤饼不均匀，过滤效率受到很大影响。另外，刮板与滤网的频繁接触会磨损刮板和滤网。

发明内容

本发明要解决的问题是，提供一种滤饼刮料系统，实现对过滤过程的精确控制：解决各批次过滤物料对滤网的直接冲击造成滤网寿命减少的问题；过滤初期粒径小的物料颗粒会穿滤，过滤后期细颗粒物料会造成过滤结构堵塞，造成滤饼含湿率升高；刮板与滤网的频繁接触会磨损刮板和滤网的问题，减少对设备的磨损。

本发明提供了一种滤饼刮料系统，包括刮取装置1、位置调节装置2、检测装置3、控制装置4，所述刮取装置1用于刮取滤饼；所述位置调节装置2与所述刮取装置1连接，用于调节所述刮取装置1的位置；所述检测装置3，用于检测滤饼的性质得到检测结果；所述控制装置4分别与所述检测装置3、位置调节装置2连接，用于根据所述检测装置3的检测结果，控制所述位置调节装置2；所述滤饼的性质包括比阻、可压缩性、孔隙度和含湿率中的至少一项。

根据本发明的一个实施方式，所述控制装置4包括信息采集模块41、信息分析模块42和动作指令模块43，所述信息采集模块41用于接收所述检测装置3的检测结果以及过滤设备运转信息；所述信息分析模块42与所述信息采集模块41连接，用于分析所述检测结果和过滤设备运转信息，得出分析结果；所述动作控制模块用于根据所述分析结果，控制所述位置调节装置2调节所述刮取装置1的位置。

根据本发明的一个实施方式，所述信息分析模块42包括，第一分析模块421和第二分析模块422，所述第一分析模块421用于将滤饼划分为滤料过滤层和卸料层，确定滤料过滤层的厚度作为第一分析结果；所述第二分析模块422用于判断所述卸料层的含水率是否达到预定值作为第二分析结果。

根据本发明的一个实施方式，所述刮取装置1包括刮刀、刮板中的任一种。

根据本发明的一个实施方式，所述位置调节装置2采用电动机驱动。

根据本发明的一个实施方式，所述检测装置3包括红外探测仪、水分测定仪、X光成像仪中的至少一种。

根据本发明的一个实施方式，所述控制装置4采用PLC控制系统