[发明专利]定向自组装模板转移方法在审
申请号: | 201811565549.X | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109727858A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 张宝林;韦亚一;孟令款;张正平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/308 | 分类号: | H01L21/308;G03F7/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 韩建伟;谢湘宁 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自组装 光刻图形 衬底表面 光刻图案 纳米图形结构 碳酸酯嵌段 第一区域 共聚物层 聚碳酸酯 刻蚀工艺 模板转移 苯乙烯 衬底 去除 聚苯乙烯 无规共聚物 第二区域 垂直的 相分离 中性层 申请 | ||
本申请提供了一种定向自组装模板转移方法。该方法包括以下步骤:在衬底上形成苯乙烯‑碳酸酯嵌段共聚物层并进行定向自组装,以使苯乙烯‑碳酸酯嵌段共聚物层形成垂直的相分离,得到自组装模板,自组装模板包括由聚苯乙烯构成的第一区域以及由聚碳酸酯构成的第二区域;去除第一区域,得到位于衬底上的光刻图形结构,光刻图形结构具有光刻图案;通过刻蚀工艺将光刻图案转移到衬底表面,以在衬底表面形成纳米图形结构。上述方法无需中性层(无规共聚物材料),通过采用刻蚀工艺即可将聚碳酸酯从自组装模板中去除形成光刻图形结构,然后通过将光刻图形结构中的光刻图案转移至下方衬底表面,就能够获得所需的纳米图形结构,工艺简单且易于实施。
技术领域
本申请涉及集成电路制造领域,具体而言,涉及一种定向自组装模板转移方法。
背景技术
嵌段共聚物定向自组装光刻(Directed Self-Assembly of Block CopolymerLithography)简称DSA,采用的是由化学性质不同的两种单体聚合而成的嵌段共聚物作为原材料,在热退火下分相形成纳米尺度的图形,再通过一定的方法将图形诱导为规则化的纳米线或纳米孔阵列,从而形成刻蚀模板进行纳米结构的制造。与其他几种技术(极紫外光刻(EUV)、纳米压印(NIL)、多电子束直写技术(M-EBDW)、无掩磨光刻(Masklesslithography))相比,DSA因为无需光源和掩膜版,具有低成本、高分辨率、高产率的固有优势,正快速得到人们的广泛关注。
嵌段共聚物(Block Copolymer)自组装是一种全新的“自下而上”(Bottom-up)的加工技术,由于它是从分子水平出发进行纳米结构的构建,因此可以形成从几纳米到数百纳米、甚至微米级、分辨率几乎连续可调整的多种多样,且具有井然有序规则排列的纳米结构。由于嵌段共聚物中的共价键(例如氢键、F-或者-NH-)连接嵌段在化学上具有不相容性而易发生自组装,利用嵌段共聚物分子的微观相分离作用,可以方便地获得长程有序的周期性结构。因为自组装形成的周期性结构非常规整且尺寸统一,其在半导体制造中可以有相当广泛的应用,例如层状相可以进行FinFET中Fin结构和栅结构的制造,以及第一层金属互连层的图形化,柱状相可以进行接触孔的制造。
利用以上嵌段共聚物的特性,使其在薄膜、孔、洞、槽中进行定向自组装(DirectedSelf-assembly,DSA),可以形成不同纳米结构图案。当前,通过构建自组装模板制备纳米结构及纳米器件已经成为当前的研究热点。关键在于先利用嵌段共聚物自组装制备模板(模板制备),进而形成光刻图形,再用干法刻蚀(或湿法腐蚀)技术将其转移到衬底上(即模板转移),从而可以用来制备不同尺寸可控的纳米结构阵列、集成电路设计、纳米器件。通过改变嵌段共聚物的链长、组成、旋涂膜厚、退火温度时间等,使其在薄膜、孔、洞、槽中进行定向自组装,可以形成不同的图案,如球状相(S,S')、柱状相(C,C')、螺旋状相(G,G')和层状相(L)等。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造