[发明专利]用于串扰补偿的方法和装置有效
申请号: | 201811570521.5 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN109962004B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | A·霍洛弥夫;G·奎林;F·岑佩尔 | 申请(专利权)人: | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;G01N27/62;H01J49/00;H01J49/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈洁;姬利永 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 补偿 方法 装置 | ||
1.一种用于从由像电流产生的测量数据信号(20)中消除添加串扰信号的方法,所述方法包括以下步骤:
a.接收由静电阱质量分析仪的静电电极之间的离子运动产生的像电流信号,其中测得的数据信号为所述像电流信号;
b.从电磁干扰源(100)中提取解耦干扰信号(10),所述电磁干扰源(100)引起所述添加串扰信号,其中所述电磁干扰源在所述静电阱质量分析仪的外部;
c.通过施加相移和/或幅度放大来经由调节模块(115)调节所述解耦干扰信号(10),以获得补偿信号(16);和
d.将所述测量数据信号(20)和所述补偿信号(16)提供给添加模块(220),在所述添加模块中,所述测量数据信号(20)和所述补偿信号(16)叠加,
由此所述补偿信号(16)由所述调节模块(115)以这样的方式调节,使得它大致上对应于所述添加串扰信号的反转信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述测量数据信号(20)由傅立叶变换质谱仪的检测器单元(200)检测。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述解耦干扰信号(10)的提取由提取装置(103)执行。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述提取装置(103)包括阻抗组件(112a、112b、112c)。
5.根据权利要求3所述的方法,其中所述提取装置(103)包括适于检测串扰(102)的天线(116)。
6.根据权利要求3所述的方法,其中所述提取装置(103)包括变压器的附加绕组(118)。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其中所述相移包括所述解耦干扰信号(10)的反转和第一附加相移中的至少一个。
8.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其中所述相移包括所述解耦干扰信号(10)的反转、第一附加相移以及第二附加相移。
9.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其中应用于所述解耦干扰信号(10)的相移和幅度放大中的至少一个被数字地控制。
10.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,还包括步骤:
e.提供来自一个添加模块(220)的至少一个补偿数据信号(22),针对所述添加模块(220),所述测量数据信号(20)和所述补偿信号(16)被提供给数据接收装置以供进一步使用。
11.根据权利要求10所述的方法,其中所述添加模块(220)将所述测量数据信号(20)和所述补偿信号(16)提供给一个结点(600),以便将它们叠加。
12.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其中通过使用检测器单元(200)获得所述测量数据信号(20),所述检测器单元是具有质量分析器的质谱仪的一部分,所述质量分析器通过静电电极捕获离子。
13.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其中所述解耦干扰信号(10)、所述补偿信号(16)和所述测量数据信号(20)中的至少一个是模拟信号。
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