[发明专利]一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法在审
申请号: | 201811571923.7 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN109725375A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 刘昆;叶嗣荣;田坤;段利华;黄茂;莫才平 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
主分类号: | G02B5/18 | 分类号: | G02B5/18 |
代理公司: | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人: | 卢胜斌 |
地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光栅 刻蚀 干法刻蚀 氧气 材料纳米 光栅表面 刻蚀过程 聚合物 晶圆 分段 表面清洗工艺 有机聚合物 光栅图形 晶圆表面 刻蚀表面 纳米光栅 光洁 衬底 挥发 去除 掩膜 升高 引入 重复 制作 | ||
1.一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,包括:
S1、采用干法刻蚀Ⅲ-Ⅴ族材料晶圆,以将掩膜上的光栅图形转移到Ⅲ-Ⅴ族材料晶圆上;
S2、使用氧气干法刻蚀晶圆表面;
S3、判断是否达到目标尺寸,若没达到则重复步骤S1~S2,否则结束刻蚀。
2.根据权利要求1所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,在采用干法刻蚀Ⅲ-Ⅴ族材料晶圆的过程中,将设定衬底温度为10℃。
3.根据权利要求1所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,材料刻蚀速度为20nm/min。
4.根据权利要求3所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,步骤S1中干法刻蚀的持续时间为15秒。
5.根据权利要求1所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,步骤S2中氧气干法刻蚀的持续时间为30秒。
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