[发明专利]一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法在审

专利信息
申请号: 201811571923.7 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109725375A 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 刘昆;叶嗣荣;田坤;段利华;黄茂;莫才平 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 卢胜斌
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 光栅 刻蚀 干法刻蚀 氧气 材料纳米 光栅表面 刻蚀过程 聚合物 晶圆 分段 表面清洗工艺 有机聚合物 光栅图形 晶圆表面 刻蚀表面 纳米光栅 光洁 衬底 挥发 去除 掩膜 升高 引入 重复 制作
【权利要求书】:

1.一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,包括:

S1、采用干法刻蚀Ⅲ-Ⅴ族材料晶圆,以将掩膜上的光栅图形转移到Ⅲ-Ⅴ族材料晶圆上;

S2、使用氧气干法刻蚀晶圆表面;

S3、判断是否达到目标尺寸,若没达到则重复步骤S1~S2,否则结束刻蚀。

2.根据权利要求1所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,在采用干法刻蚀Ⅲ-Ⅴ族材料晶圆的过程中,将设定衬底温度为10℃。

3.根据权利要求1所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,材料刻蚀速度为20nm/min。

4.根据权利要求3所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,步骤S1中干法刻蚀的持续时间为15秒。

5.根据权利要求1所述的一种Ⅲ-Ⅴ族材料纳米光栅刻蚀方法,其特征在于,步骤S2中氧气干法刻蚀的持续时间为30秒。

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