[发明专利]一种高强低阻导电陶瓷膜及其制备方法在审
申请号: | 201811573304.1 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN109456078A | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
发明(设计)人: | 瞿广飞;李志顺成;解若松;冯涛;宁平 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | C04B38/06 | 分类号: | C04B38/06;C04B35/00;C04B35/565;C04B35/48;C04B35/622;C04B35/64 |
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地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电陶瓷 高强材料 低阻 制备 导电陶瓷材料 机械强度性能 无机纳米金属 超导体材料 质量百分比 导电性能 导体材料 烧结法制 烧结助剂 无机杂化 交联剂 陶瓷膜 造孔剂 组成物 共混 | ||
1.一种高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于,由以下质量百分比的组成物通过共混-烧结法制备而得:无机杂化导电陶瓷材料25%~35%、超导体材料20%~25%、无机纳米金属颗粒5%~10%、无机高强材料30%~35%、造孔剂1%~5%、交联剂1%~5%、烧结助剂1%~5%。
2.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:无机杂化导电陶瓷材料为BaPbO3、碳化硅陶瓷、二硅化钼陶瓷、氧化锆陶瓷、氧化钍陶瓷中的一种。
3.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:超导体材料为NbTi、Nb3Sn、Nb3Al中的一种。
4.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:无机纳米金属颗粒为纳米Al2O3、纳米CuO2、纳米ZrO2、纳米TiO2中的一种。
5.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:无机高强材料为氮化硅微粉或碳化硅微粉。
6.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:造孔剂为碳酸氢钠、尿素、PVP、PEG、PVA中的一种。
7.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:交联剂为三烯丙基异三聚氰酸酯、三烯丙基氰脲酸酯、三羧甲基丙烷三甲基丙烯酸酯、二缩三丙二醇二丙烯酸酯、三硅酸乙酯、甲基丙烯酸烯甲酯中的一种。
8.根据权利要求1所述的高强低阻导电陶瓷膜,其特征在于:烧结助剂为膨润土、紫木节、滑石粉、高岭土、CaO、MgO、玻璃、磷酸铝中的一种。
9.权利要求1-8任一项所述的高强低阻导电陶瓷膜的制备方法,其特征在于,步骤如下:
(1)将无机杂化导电陶瓷材料、无机纳米金属颗粒、交联剂、烧结助剂、去离子水混合后,80~100℃下水浴加热、搅拌,并滴加NH3·H2O调节pH值>7,制得无机杂化导电陶瓷的溶胶;
(2)将无机高强材料、去离子水、超导体材料和造孔剂加入到步骤(1)溶胶中,球磨3~7h,得浆料;
(3)将浆料真空除气,然后将浆料旋转喷涂于基片上,得到陶瓷膜素坯,其中基片为Al2O3、碳化硅、氮化硅基片;
(4)将陶瓷膜素坯在真空炉中排胶烧结,制得高强低阻导电陶瓷膜。
10.根据权利要求9所述的高强低阻导电陶瓷膜的制备方法,其特征在于:排胶烧结过程中,以5~6℃/min的升温速率升温至400~500℃,保温1~3h;以3~5℃/min的升温速率依次升温至800℃、1000℃、1500℃,每个温度点保温0.5~2h;继续以1~2℃/min的升温速率升温至1700℃~1800℃,保温1~2h,之后自然冷却至室温。
11.根据权利要求9所述的高强低阻导电陶瓷膜的制备方法,其特征在于:旋转喷涂的速率为800~1200r/min,旋涂时间为5~10min,膜厚度为0.05~2mm。
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